X射线实时成像器件缺陷校正方法的研究.pdfVIP

2003 年 1 月 北 京 航 空 航 天 大 学 学 报 January 　2003 　第29 卷 第1期 Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics Vol. 29 　No 1 X 射线实时成像器件缺陷校正方法的研究 杜　剑　　魏东波　　路宏年 (北京航空航天大学 机械工程及自动化学院) 　　摘 　　　要 : 对于由射线转换屏和 CCD 相机组成的 X 射线实时成像系统而言 , 成像器件缺陷是影响系统成像质量的重要因素. 结合工程实践 ,分析了射线转换屏缺 陷、CCD 像元光响应不一致性等成像器件缺陷的特性及其成像规律 ,提出了一种数学 模型和成像器件缺陷校正方法. 实验结果表明 ,该方法对消除成像器件缺陷造成的图 像降质有较好的效果. 关 　键 　词 : 放射照相 ; 图像处理; 灰度 ; 射线转换屏 中图分类号: TP 391 ( ) 文献标识码 : A 　　　　文 章 编 号 : 2003 　　作为一种传统的无损检测方法 ,射线检测在 屏 ,实现入射射线向弱可见光的高灵敏度转换. 反 工业探伤领域已经得到了广泛的应用. 射线实时 射镜将图像光路移出射线辐照场 ,并成像在专用 成像技术实现了自动检测及控制 ,提高了射线检 的科学级 CCD 相机芯片上. 然后通过图像采集和 测的效率 ,具有良好的发展前景. 在射线实时成像 处理模块 ,得到在计算机上显示的数字图像. 系统中 ,成像器件缺陷是影响图像质量的主要降 在图示的系统中 ,转换屏和 CCD 相机是主要 质因素. 转换屏缺陷和 CCD 光响应不一致性属于 的成像器件 ,也是决定原始图像质量的主要因素. 空间位置固定的确定性降质[1 ] ,可以通过建模和 1. 2 　成像器件缺陷 实验方法来获得表征其特性的校正因子. 本文在 决定射线转换屏转换效率的关键是闪烁晶 对成像器件缺陷进行校正时 ,首先研究成像器件 体. 本文涉及的闪烁晶体材料为渗砣碘化铯 缺陷在不同条件下对成像的影响规律 ,然后得到 (CsI( Tl) ) . 转换屏缺陷是大面积碘化铯晶体生长 一种能单独表征其缺陷特性的校正因子并推导出 或加工过程中出现的划痕、云层和杂质包裹体等. 一种相应的校正方法 ,最后给出不同条件下的处 这些缺陷的存在会导致晶体光输出下降、均匀性 ( [2 ] 理结果. 对于其它成像器件 如非晶硅光电二极管 变差 ,在实际图像上表现 ) 构成的数字成像器等 缺陷 ,本文的校正方法也具 为划痕、亮斑、云斑等“伪缺 ( ) 有的借鉴意义. 陷”如图 2 ,严重影响了检 测系统的成像质量. 转换屏 1 　成像器件特性 缺陷特性表现为各点厚度方 向上闪烁晶体粒子对X 射线 1. 1 　射线实时成像系统结构