晶振负性阻抗测试方法以及优化方法.docVIP

影响： 负性阻抗是来判断振荡电路稳定性的一个参数，如果负性阻抗不匹配，那么当振荡器随着老化、温度、电压的变化将受到很大的影响。 测试方法： 首先使用晶振测试仪测出晶振的各种参数（因为不同晶振的等效串联电阻相差较大因此不能使用规格书中所标的值） 如下图在电路中串联可变电阻VR。不断增大VR直到晶振停止振荡。 粗略计算应该：VR+Rr5*Rr 负性阻抗过小应对策略： 适当同时减小电容Cg以及Cd。（如果使用此方法造成频偏严重，可以考虑使用负载电容CL较小的晶振） 减小Cg增大Cd。 （通过增大反馈系数，反馈系数应在0.1～0.5之间不宜过大不宜过小。反馈系数的计算方法：以接地点为分压点计算分得的电压，三次泛音同理计算） 使用Rr较小的晶振。 备注：方法1、2都会在一定程度上影响频偏以及激励功率，因此在调解的时候需要注意。 原理篇： 振荡电路由于器件本身的等效电阻存在，因此在没有外部能量输入的情况阻尼振荡，将会渐渐停止振荡。假如给电路引入一个“负阻值”（阻值小于零）的器件与振荡电路中的阻值互相抵消，则振荡电路就能够一直振荡下去。 可见，一旦受到原始的冲击，并联谐振回路将产生电容中的电能和电感中的交替的转换的特征。振荡的幅度不断的增加，随着幅度的增加，负阻器件的平均电导不断的减小直到与回路的固有的相等时，电路建立起平衡。 由以上的计算可以看出，振荡电路的起振条件为负阻绝对值大