海底原位x荧光分析的水分效应及校正技术研究.pdfVIP

摘要 海底原位X荧光探针分析的水分效应及校正技术 研究 作者简介：张永涛，男，1986年3月出生，师从成都理工大学赖万昌教授， 201 1年6月毕业于成都理工大学核技术及应用专业，获得工学硕士学位。 捅 望 本论文来源于国家“863计划”项目：“海底原位x射线探针分析系统研制” (2006AA092219)。 本文以自己配置的铜样品和鞍山钢铁厂铁精矿、尾矿为测量对象，采用X 射线管激发的便携式x射线荧光分析仪，开展样品内部含水量的变化以及探测 器探窗与样品之间水层厚度的变化对初级x射线和特征X射线的强度及散射峰 影响的研究及校正。本文研究的水分效应分为两个方面，一部分为样品内部水分 对；另一方面为样品外部水分(仪器探窗与样品之间的水分)对目标元素特征X 射线的吸收和对相干和非相干散射射线的增强影响。本论文通过理论和实验数据 分析，对有水分存在X射线荧光测得的谱线中的信息进行提取与演算，实现对 由水分引入的影响进行校正，为X射线荧光分析的海底应用进行理论上的研究。 本文取得的主要成果有： 1．建立了以散射射线