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PLD器件概论

第2章 PLD器件;2.1 概述 2.2 PLD的分类 2.3 PLD的基本原理与结构 2.4 低密度PLD的原理与结构 2.5 CPLD的原理与结构 2.6 FPGA的原理与结构 2.7 PLD器件的编程元件 2.8 边界扫描测试技术 2.9 在系统编程 2.10 FPGA/CPLD器件概述;;2.1 概 论 ;◆ 1985年,美国Xilinx公司推出了现场可编程门阵列(FPGA,Field Programmable Gate Array) ◆ CPLD(Complex Programmable Logic Device),即复杂可编程逻辑器件,是从EPLD改进而来的。;PLD的集成度分类;四种SPLD器件的区别 ;PLD器件按照可以编程的次数可以分为两类: (1) 一次性编程器件(OTP,One Time Programmable) (2) 可多次编程器件 OTP类器件的特点是:只允许对器件编程一次,不能修改,而可多次编程器件则允许对器件多次编程,适合于在科研开发中使用。;(1)熔丝(Fuse) (2)反熔丝(Antifuse)编程元件 (3)紫外线擦除、电可编程,如EPROM。 (4)电擦除、电可编程方式,(EEPROM、快闪存储器(Flash Memory)),如多数CPLD (5)静态存储器(SRAM)结构,如多数FPGA ;(1)基

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