隧道原子力显微镜.pptVIP

扫描隧道显微镜STM 100nm HIV 《作为本征值问题的量子化》 EUO 透射率 a/nm 0.1 0.2 0.5 10.0 D 0.101 V a 压电陶瓷上的电压反应了表面的起伏 压电陶瓷 压电陶瓷精度：1nm/V 样品必须是导体，至少是半导体 真空环境 二维像 原子力显微镜AFM 1982年,Gerd Binnig 和Heinrich Rohrer 悬臂 长： 100~200μm 宽： 10~40μm 厚： 0.3~20μm 弹性系数：0.005N×m-1 共振频率：10kHZ 探针 由Si 或Si3N4经光刻技术制成 检测系统 光反射法、光干涉法、隧道电流法、电容检测法等 检测系统 AFM对样品扫描的精确控制是靠扫描器来实现的．扫描器中装有压电转换器．压电装置在X，Y，Z三个方向上精确控制样品或探针位置。 钛锆酸铅[Pb(Ti,Zr)O3]制成的压电陶瓷材料 1mv~1000V的电压信号转换成十几分之一纳米到几微米的位移。 灵敏度 探测器 激光器 悬臂 分子间力 工作方式 接触式 非接触式 敲打式 1.接触成像方式 探针与被测表面距离约为1nm，通过斥力来使悬臂发生弯曲。 2.非接触成像方式 探针与被测表面距离在几纳米到几十纳米之间，通过引