留学归国者,温州大学物理与电子信息工程学院实验中心的主.PDFVIP

万毅，男，工学博士，IEEE Member，美国 University of Maryland 留学归国者，温州大学物理与电子信息工程学院实验中心的主 任，温州市 551 人才工程第二层次合格培养人选，温州市科技项 目评审专家。 发表论文 [1] Y. Wan*, Hailong Huang, Diganta Das, and Michael Pecht, Thermal Reliability Prediction and Analysis for High-density Electronic Systems Based on Markov Process, Microelectronics Reliability, 56 (2016) 182–188. [2] Y. Wan*, Hailong Huang, and Michael Pecht, Thermal Fatigue Reliability Analysis and Structural Optimization Based on a Robust Method for Microelectronics FBGA Packages, IEEE