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可靠性测试报告机型：P582Q测试时间：2014/10/18测试人：批准：测试项目试验条件测试目的试验方法检验标准检验结果备注按键测试室温（20~25°C测试手机按键的寿命对手机所有按键进行10万次按压按键测试,每100次做好记录并手机按键弹性及功能正常手机按键弹性及功能正常OKWIFIWIFI路由器测试WIFI信号在无障碍环境下，离WIFI路由器30米处连接WIFI能连接并有2格以上信号OKBluetooth需要一台蓝牙音箱测试蓝牙信号在无障碍环境下，蓝牙距离5米以外连接蓝牙能够正常传送和接受数据OK耳机插拔室温（20~25°C耳机孔耐插能力开机状态；耳机插入耳机插孔再拔出3000次，,每50次做好记录。实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤OKUSB插拔室温（20~25°CUSB插孔的稳定性将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充电界面显示正常后，拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次,每50次做好记录。I/O接口无损坏，焊盘无脱落，充电功能正常。无异常手感OKSIM插拔室温（20~25°CSIM卡触片稳定性SIM卡插上取下反复1000次，,每50次做好记录并SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，手机读卡功能使用正常。SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，手机读卡功能使用正常。OKT插拔室温（20~25°CT卡触片稳定性T卡插上取下反复3000次,每50次