T2000 SiP测试方案介绍 T2000 SiP Test Solution.pdfVIP

Ele嘟威 I氏lui电pmem子for玉然P毫rodu用cts撬M蛐幽ct珈恤 ．半导体制·丰寻侔市|J造工艺与设备· i T2000SP测试方案介绍 过海夏 (爱德万测试(苏州I)有限公司上海分公司，上海201102) 摘 要：随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用，SiP在ATE上的测试面临诸多挑战。通过各 种Module的灵活搭配，ADVANTESTT2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个 die／chip的功能特性测试．在一个测试平台上完成整个测试的解决方案。并且T2000架构凭借灵 活的开放式框架，丰富的测试资源，高效的并行测试构架，人性化的操作界面．以及先进的测试理 念为SiP测试提供了更好的低成本解决方案。 关键词：SiP；系统集成封装；T2000 中图分类号：TN407 文献标识码：B T2000SiPTestSolution