on-chip sram内建自测试及其算法的研究 research on built-in self-test and test algorithm of on-chip sram.pdfVIP

第41卷第4期 数字通信 Vol41．No．4 14 Communication 2014 2014年8月25日 Digital Aug．25 DoI：10．3969／j．issn．1005—3824．2014．04．004 SRAM内建自测试及其算法的研究 on．Chip 刘有耀，李彬 (西安邮电大学，两安710061) sRAM的内建自测试及其算法。在引入嵌入式存储器内建自测试的基础上，详细分析 摘 要：具体研究on—chip on—chip sRAM内建自测试的具体实现方法，反映出内建自测试对于简化测试程序和缩短测试时间，从而降低测试 成本的重要性。详细描述在测试on．chipSRAM时常用的算法，并具体分析非传统性测试算法——Hamme