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珠宝玉石鉴定方法
鉴定方法
折射率、双折射率
(一)阿贝型宝石折射仪
1、方法原理
当光从折射率为n的被测样品进入折射率为N的棱镜时,入射角为i,折射角为Υ,则
sini
N
———
sinΥ
=
——…………
n
(1)
在反射型折射仪中,入射角i=90°,代入(1)式得
1
———
=
N
——…………
(2)
SinΥ
n
n=N2sinΥ (3)
棱镜的折射率N为已知道,通过测量折射角Υ,即可求出被测样品的折射率n。
可测量样品折射率的范围取决于N值及接触折射率油的折射率值。
用双折射率样品的最大值减去最小值,即为双折射率。实测时,受样品定向的随机性影响,所测的双折射值≤样品的理论值。
2、仪器
宝石折射仪,精密度为±0.002,测量范围:1.350~1.800。
3、操作步骤
清洗或擦拭被测样品。
将适量折射率大于样品的折射率油滴在样品台一侧的金属台上。c.将样品的抛光平面或晶面朝下,轻放于油上。
轻推样品至样品台中央。
由观测目镜读出明暗交界线的刻度即为折射率值。折射率大于1.80时,用1.80表示。
不断转动样品的偏光片,非均质体可测得一个最大值和一个最小值,两值之差则为双折射率。
注1:遇下列情况之一时,折射率不作为重要鉴定项目:
a.样品过小(平面直径く2mm)时不易测定折射率。b.镶嵌金属超过样品平面时所测折射率误差大。
c.样品没有光滑平面时不能测定折射率值。d.折射率值高于折射仪测量范围。
注2:遇下列情况之一时,双折射率不作为重要鉴定项目:
a.样品过小时不能测定双折射率值。b.样品为弧面形时不易测定折射率。
c.样品为集合体时不能测定双折射率值。
(二)反射型宝石折射仪
1、方法原理
样品的表面反射率与折射率存在下列近似函数关系,即:
(n-N)2反射率= —————
(n+N)2式中:n--样品的折射率
N--周围介质的折射率(空气的N≈1)。
采用近红外光做光源,测得抛光良好样品平面的反射率值,计算或仪器自动换算成折射率值。
2、仪器
反射型宝石折射仪,精确度为±0.005,测量范围为1.300~2.999。3、操作步骤
清洗或擦拭被测样品表面。
将样品的抛光平面朝下,水平放于折射仪测试窗口上,将样品罩盖于样品上。
水平旋转样品一周,从读数盘上读出样品折射率值(单折射)或最大、最小的两个折射率值(双折射)。
被测样品的抛光平面必须大于测量窗口,而且光洁度较好,否则影响测量精度。
珠宝玉石鉴定标准
范围
本标准规定了珠宝玉石的术语,鉴定方法及鉴定标准。
本标准适用于珠宝玉石实验室出具证书或报告;也适用于珠宝玉石贸易,如公司、商店、展览及展销会、拍卖行等贸易活动;海关、保险公司及珠宝玉石进出口应参照执行。
2 引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。
本标准出版时,所示版本均为有效,所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。
GB614-88化学试剂折光率测定通用方法GB611-88化学试剂密度通用测定方法GB/T16552-1996珠宝玉石名称
3 术语(1)
结晶状态crystallinestate
指样品是否为结晶物质。分为:晶质体和非晶质体。晶质体还可分为晶体(可有双晶)和晶质集合体。
晶系crystalsystem
按晶体的对称程度分为七个晶系:等轴晶系(cubicsystem)、六方晶系(hexagonalsystem)、四方晶系
(tetragonalsystem)、三方晶系(trigonalsystem)、斜方晶系(orthorhombicsystem)、单斜晶系(monoclinicsystem)、三斜晶系(triclinicsystem)。
晶体习性crystalhabit
晶体或晶质集合体通常所具有的形状、表面特征等。
光泽luster
指珠宝玉石反射光的能力和表面反射光线所表现的特点。光泽从强到弱有:金属光泽(metallicluster)、半金属光泽(submetallicluster)、金刚光泽(adamantineluster)、玻璃光泽
(vitreousluster);由集合体或表面特征所引起的特殊光泽有:油脂光泽(greasyluster)、蜡状光泽(waxyluster)、珍珠光泽(pearlyluster)、丝绢光泽(silkyluster)。
解理/断口/裂理cleavage/fracture
晶体受力后沿晶格面网方向产生的应力面为解理;按应力面的平滑程度及产生的难易程度分为极完全、完全、中等
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