微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则 编制说明.pdf

一、工作任务来源和主要工作过程

《微束分析电子探针显微分析波谱法定性点分析》采标项目是WDS定性、定量系列

国际标准中的配套标准——WDS定性分析标准。原等同采标的国际标准为2004年发布的ISO

17470：“Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—Guidelinesfor

qualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometry”国际标准。

采标的国家标准于2006年发布：波谱法定性点分析电子探针显微分析导则（GB/T

20725-2006）。2014年国际标准发布了修订版（第二版）：Microbeamanalysis—Electron

probemicroanalysis—Guidelinesforqualitativepointanalysisbywavelength

dispersiveX-rayspectrometry（ISO17470：2014）。

修订版国际标准对部分内容进行了修改。本次标准修订是根据2014年发布的现行国际标

准进行修订。2022年8月根据国际标准修订版对原国家标准进行了文字和部分内容的修改，

并向标委会提交了标准的编制说明、标准立项建议书和标准修订稿，经标委会委员讨论，一

致同意向国家标准化管理委员申报立项。2023年国家标准化管理委员会批准正式立项，立项

批准计划号T-469：

微束分析电子探针显微分

T-469

析波谱法定性点分析导则

2024年4月已向微束分析标委会提交了修改后的审查稿和编写说明。

本次修订除文字修改外，主要技术变化如下：

a）将文件名《波谱法定性点分析电子探针显微分析导则》修改为《微束分析电子探针

显微分析波谱法定性点分析导则》；

b）修改了规范性引用文件的引导语；

c）“高次衍射”修改为“高阶衍射”、“高次峰是对应于n=2,3,4……时不同衍射角度

出现的谱峰”修改为“高阶衍射是n=2,3,4……的衍射角度出现的谱峰”（见3.1，

2006年版的3.1）

d）“X射线波长表”修改为“X射线表”（见3.4，2006年版的3.4）；

e）“专用名词缩写”修改为“缩略语”（见4，2006年版的4）；

f）缩略语增加“WDX：波谱法(wavelengthdispersiveX-rayspectrometry)”（见

4，2006年版的4）；

g）“总则”修改为“概述”（见6.1，2006年版的6.1）；

h）“设置分析条件”修改为“分析条件设置”（见6.2，2006年版的6.2）；

i）“应参见ISO14594:2003中5.2”，修改为“宜按GB/T30705（ISO14594）中5.2

选择”（见6.2.1，2006年版的6.2.1）；

j）文件中“本底”均修改为“背底”；

k）“本底峰强度应按照ISO14594:2003中6.3.3测定”，修改为“背底强度宜按GB/T

30705（ISO14594）中6.3.3的要求测定”，删除“注”，将注中内容改为正文（见

6.3.1，见2006年版的6.3.1）；

l）“已测峰的鉴别”修改为“谱图峰鉴别”（见6.3.2，2006年版的6.3.2）；

m）“波长可以用nm或者用相应能量的keV表示，应避免使用Å”修改为“谱峰位置或

谱图能用千电子伏（keV）或纳米（nm）表示，宜避免使用Å”（见6.3.2注1，2006

年版的6.3.2注1）；

n）“其波长和波形的差别……”修改为“这种波长和峰形的差异……”（见6.3.2注3，

2006年版的注3）；

o）“检测限”修改为“探测限”（见6.4，2006年版的6.4）；

p）“即使试样定性分析时没有检测到某元素，也不能推断该元素不存在，只能说明该元

素的含量低于电子探针的检测限。如果需要，检测限可用下式计算”修改为“试样定