X射线晶体学-第8章-结晶度计算-图文.pptxVIP

X射线晶体学

8.结晶度计算

提纲结晶度的概念结晶度的测量方法绝对结晶度的测量相对结晶度的测量结晶度计算实例用纯样法计算陶瓷析晶过程中的结晶度差异法求绝对结晶度大米淀粉相对结晶度计算陶瓷材料相对结晶度计算其他结晶度计算方法石英的结晶度指数石墨化度测量

1.结晶度的概念结晶度可以描述为结晶的完整程度或完全程度，包含两个层面的意义：一是结晶的完全性。物质从完全非晶体转变为晶体的过程是连续的。理想的晶体产生衍射，理想的非晶体产生非相干散射。试样中的晶体占多数时，衍射增强而非相干散射减弱，结晶度高；反之则结晶度低。二是结晶的完整性。畸变的结晶将导致本应产生的衍射转变为程度不同的弥散散射。结晶完整的晶体，晶粒较大，内部质点的排列比较规则，衍射峰高、尖锐且对称，衍射峰的半高宽接近仪器测量的宽度。结晶度差的晶体，往往是晶粒过于细小，晶体中有位错等缺陷，使衍射线峰形宽而弥散。结晶度越差，衍射能力越弱，衍射峰越宽，直到消失在背景之中。

结晶度的测量方法有密度法、红外法、核磁共振法、差热分析法（DSC)等。无论哪一种方法都具有近似性和相对性。一般来说，X射线法优于以上各种方法。主要原因是XRD法属于绝对法，显见优于FT-IR与NMR等相对法。由于各种方法的原理不一样，适用范围不一致，所测得的结晶度不一定具有完全对应的关系。

全倒易空间X射线散射守恒原理根据全倒易空间X射线散射守恒原理（Full-Reciprocal-SpaceX-rayScatteringConservationPrinciple，FRS-XRSCP)：对一个给定原子集合体，则不论其凝聚态如何（气态、液态、非晶固态、晶态、不同取向态或不同晶相与非晶相的混合态等），当受到相同强度的X射线照射时，其相关散射在全倒易空间里总值保持守恒。在全倒易空间里相关散射的强度分布可以因原子凝聚态的不同而不同，但散射的总强度保持守恒。这一原理说明，X射线总的散射强度，或者说，除康普顿散射外的散射强度不管晶态和非晶态的数量比如何，总是一个常数。

2.结晶度的测量方法2.1绝对结晶度的测量绝对结晶度测量有如下两种方法：(1)纯样法。需要测某种物质物质有100%的晶态样品（或100%非晶态样品），可以采用纯样法。(2)差异法。一般情况下，要得到完全非晶态或完全晶态的物质是困难的。例如，淀粉总是由多种状态的成分组成，无法将它们“炼纯”成纯非晶或纯晶体；很多有机物和高聚物都也这样。这时候就要采用差异法。

(1)纯样法若需要测结晶度的某种物质有100%的晶态样品（或100%非晶态样品）。那么可以先测出该物质纯晶态或纯非晶态整个扫描范围内的全部衍射峰的积分强度Ia100或测出纯非晶态的全部散射强度Ial00。绝对结晶度可由下面的公式计算：Ia、Ic是从实测样品的衍射（散射）谱中分离出来的非晶散射强度和晶体衍射强度(各峰的积分强度之和）。这一方法适用于从非晶态中析出化学成分不同的晶相的情况。这种方法计算结果有100%纯态标样的标定，计算结果精度高。

(2)差异法假定结晶相百分数正比于扫描范围内的衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。两式相除，整理可得：k=Q/P，对于同一种试样来说，是一个常系数。

假设有两个结晶度为Xc1和Xc2的试样，相应的非晶度为Xa1和Xa2。两样品的结晶度和非晶度之差为：由Xc=PIc，Xa=QIa可得：且有ΔZc=-ΔXa，k=Q/P，从而有:求出k值后，可代入前面的公式计算绝对结晶度。

2.2相对结晶度的测量假定从非晶态形成的晶态物质化学组成相同，没有择优取向，晶相和非晶相对X射线的衍射和散射能力相同。可令k=l。此时可采用简单的计算公式：一个样品的衍射谱中，晶体部分的衍射强度加上非晶体的散射强度之和为100，所有衍射峰的强度之和为75，那么结晶度为75%。如果扫描范围比较宽，样品不存在择尤取向，晶相和非晶相的化学组成基本相同（对X射线的吸收系数基本相同），可以认为此方法具有相对比较意义。这种方法计算相对结晶度是目前普遍使用的一种方法。

3结晶度计算实例3.1用纯样法计算陶瓷析晶过程中的结晶度问题：有一陶瓷样品，其中含有部分非晶，需要计算其结晶度。实验步骤如下：(1)将陶瓷样品在某温度下加热保温一段时间，使其全部变成晶体。(2)读入数据文件，选定10~40o为拟合范围（非晶散射峰2θ40°)。(3)选择线性背景，并调整好背景线位置使背景线与图谱底部相切。(4)拟合所选范围内所有的衍射峰。(5)打开菜单Report-PeakProfileReport命令，记录衍射峰总面积。所选范围内的衍射峰总面积为Ic100=1493733。

3结晶度计算实例(6)读入实验样品的衍射谱，选定同样的拟合范围，不作平滑处理，选择同样的