用于X射线单晶衍射仪的CCD和CMOS技术对比.pdfVIP

用于 射线单晶衍射仪的 和 X CCD CMOS 技术对比 技术概述 前言 （电荷耦合元件）和 （互补金属氧化物半导体）都不算是新技术。事实上， CCD CMOS 这两种技术已经发明了数十年，CMOS 技术于 1967 年取得专利，比CCD 技术要早两年。 在 射线单晶衍射仪领域通常将多块 芯片拼接在一起以达到更大的有效面积。 X CMOS 1 目前有大量这种类型的芯片，而且多为基于 年前的设计 。 10 在最近的 年中， 技术在化学和大分子晶体学领域的应用已十分普及，被认为是这 10 CCD 些领域中检测系统的最佳选择。现在，CMOS 检测器也开始在晶体学应用领域中有所开 发和应用，在对比这两类技术的时候，有以下一些重要的信息需要参考。 图 蛋白质晶体的 射线衍射图 1. X 样品应用 通常用于某些高能医学成像应用以及消费 太空望远镜），以及高端的专业型数码单 型到专业型数码相机。CCD 芯片的生产规 反相机和数字媒体格式相机（如，莱卡和 在成本方面，CMOS 芯片较CCD 低廉， 模较小，它们通常用于更专业的高性能应 哈苏生产的相机）。图 是 芯片和 2 CCD 这是因为 CMOS 芯片的生产规模更大， 用领域。例如，天文成像系统（如，哈勃 CMOS 芯片的成像应用实例。 并大量用于消费级电子产品。CMOS 芯片 A. 低剂量、高反差应用 B. 高剂量、低反差应用 2 3 图 （）典型的 芯片应用，如天文成像 和专业级数字媒体格式相机 。（ ） 芯片的应用， 2. A CCD B CMOS 如医学成像和消费型数码相机 2 表 检测器的性能在晶体学中意味着什么 1. 在 射线晶体学中的整体性能 X 芯片具有高增益和 位的动态范 CCD 18 读出噪音