水分影响与校正.pdfVIP

第27卷第4期 核 技 术 Vol.27,No.4 2004年4月 NUCLEARTECHNIQUES April2004 水底沉积物原位X射线荧光测量中 水分的影响与校正 葛良全 赖万昌 林 玲 林延畅 (成都理工学院 成都610059) 摘要 论述了水底 (海底、湖底或水系)沉积物中含水量的变化对原位X射线荧光测量的影响，以源初级X 射线在沉积物上的相干散射线和非相干散射射线强度为内标建立的散射校正方程，可有效地克服沉积物中含 水量变化对目标元素特征X射线的干扰。实验结果表明，对铜矿远景区土壤样品，当样品中含水量变化为20% 时，目标元素 (Fe:10.9%;Cu:300mg/kg;Zn:124mg/kg)特征X射线强度的变化小于5%a 关链词 海底沉积物，X射线荧光分析，水分，散射校正 中图分类号 P631.6 在常规的室内X射线荧光分析和地面现场X射 其结果是，前者使目标元素特征X射线强度减 线荧光测量中，被测对象是干燥的粉末样品，或者 小，在仪器谱上特征X射线峰面积减小;后者一方 是含有一定水分 (一般小于10%)的土壤或岩石， 面使源初级X射线的散射射线强度增加，另一方面 由于其水分较少或变化不大，所以样品中水对X射 也使目标元素特征X射线强度减小。在仪器谱上表 线荧光分析结果的影响一般可忽略，或者采用目估 现为源初级射线的相干散射峰和非相干散射峰增 法简单地将样品分类处理[[U。当以水底沉积物(如海 强，低能本底增加，目标元素特征X射线的净峰面 底沉积物、湖底沉积物和水系沉积物)作为X射线 积减小。 荧光测量对象时，在几米、几十米、甚至几百米的 1.2 水底沉积物中水分影响的校正方程 静水压力下沉积物中的含水是呈饱和或者超饱和状 态赋存的。与地面X射线荧光测量相比较，水底沉 沉积物中水对目标元素特征X射线的影响，主 积物中单位体积内的含水量明显增大，而且沉积物 要表现为对特征X射线的吸收。假设沉积物中目标 含水量与沉积物上覆水层的深度，沉积物的类型、 元素及其它基本成份不变，则目标元素特征X射线 结构有关。对海底、湖底沉积物现场X射线荧光测 强度的变化量dIx与目标元素特征X射线强度Ix和 量而言，由于被测点位涉及不同水深、不同类型的 沉积物中水分的变化量dao成比例，即: 沉积物，沉积物中的含水量不可避免地发生相对变 dlx=-,u,Ixdw (1) 化。研究沉积物中含水量对X射线荧光测量的影响， 式中的负号表示特征X射线强度随水分的增加而减 并提出有效的校正技术是保证水底沉积物原位X射 小，户。为比例常数。 线荧光分析精度和准确度的关键性技术之一。 解该微分方程。初始条件:C0=0时，Ix=Io，则: Ix=Ioe-,mw (2) 1理论分析 式中，Io为沉积物中水分为0时目标元素特征X射 线强度;产河考虑为沉积物中水对目标元素特征X 1.1 水底沉积物中水分的影响 射线的有效衰减系数:当P擅为正时，表示水对目 从X射线荧光产生的机理 (过程)分析，单位 标元素特征X射线的吸收;产。值为负