相位噪声及其测试技术相位噪声及其测试技术.pdfVIP

通信测试专题 COMMUNICATION TESTING 相位噪声及其测试技术 相位噪声及其测试技术 Phase Noise and Its measurement techniques 电子科技大学 陈国龙 摘 要：本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征，并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析， 并在此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 关键词：相位噪声；鉴相法；鉴频法；相噪测试；中频频谱分析法 一、引言 式中，V(t)为信号瞬时幅度，A为 相关函数R(τ)= (τ)， (t+τ)]和相 0 现代电子系统和设备都离不开相位 标称值幅度，f为标称值频率。此时信号 对频率起伏的自相关函数R(τ)=[y(τ), 0 y 噪声测试的要求，因为本振相位噪声影 的频谱为一线谱。但是由于任何一个信 y(t+τ)]，由维纳-钦辛定理可知自相 响着调频、调相系统的最终信噪比，恶 号源都存在着各种不同的噪声，每种噪 关函数和功率谱密度间存在如下关系 化某些调幅检波器的性能；限制频移键 声分量各不相同，使得实际的输出成为： f f R(τ)←→S(f),(τ)R←→S(f)， y y f 控 （FSK）和相移键控 （PSK）的最小 V(t)=[A+ε(t)]sin[2πft+ (t)]（2） ←→表示傅里叶变换对。通常 (t) 0 0 误码率；影响频分多址接收系统的最大 在研究相位噪声的测量时，由于考 1，近似有 噪声功率等。在很多高级电子系统和设 虑振荡器的幅度噪声调制功率远小于相 L(f)=(1/2)S （7） p 备中，核心技术中往往有一个低相位噪 位噪声调制功率，所以|ε(t)|A，通 0 声频率源。可见对相位噪声进行表征、测 常可以将ε(t)忽略不计，而主要是对 (t)三、相位噪声的测试技术 试以及如何减小相位噪声是现代电子系 项进行测量，故可以得到： 传统的测试方法主要有直接频谱仪 统中一个回避不了的问题。本文较详细 V(t)=Asin[2πft+ (t)]（3） 法、基于低通采样的鉴频法和鉴相法,另 0 0 的阐述了相位噪声的概念及其表征，并 对 (t)的测量，可以用各种类型的 外一种就是本文提到的基于带通采样的 在分析其通用的测试技术的同时提出了 谱密度来表示。显然此时的相位起伏为 中频频谱分析法。 一种新的测试方法——基于带通采样的 Δ (t)= (t)，频率起伏为Δf(t)=[d (t)/ 1.直接频谱仪法 中频频谱分析法。 dt]/2π。常用的相对频率起伏： 将未调制