§1-9 迈克耳孙干涉仪 知识回顾 由上式可见,对于厚度均匀的薄膜,光程差是由入射角i1决定的。凡以相同倾角入射的光,经膜的上、下表面反射后产生的相干光束都有相同的光程差,从而对应于干涉图样中的一条条纹。故将此类干涉条纹称为等倾干涉条纹。 从面光源S上任一点以相同倾角入射到膜表面上的光线应该在同一圆锥面上,它们的反射光在屏上会聚在同一圆周上,因此,整个干涉图样是由一些明暗相间的同心圆环组成。 概述 迈克耳孙干涉仪的历史作用 迈克耳孙干涉仪基本原理 迈克耳孙干涉仪的应用 迈克耳孙干涉仪的历史作用 迈克耳孙和他的合作者利用这种干涉仪进行测“以太风”、光谱线精细结构的研究和用光波标定标准米尺等实验,为近代物理和近代计量技术作出了重大贡献,为此,迈克耳孙获得1907年诺贝尔物理学奖。 迈克耳孙干涉仪实体图 仪器基本原理 迈克耳孙干涉仪是根据光的等倾干涉原理制成的一种精密干涉仪。 光路图如下:从单色光源S发出的平行光束ab,以45°的入射角射到背面为半透明表面的平面玻璃板G1上,该板把入射光束分成强度几乎相等的反射光束a1b1和透射光束a2b2。这两束光分别经分光板G1和 G2的反射和透射最后经测微目镜会聚于焦点A处发生干涉。 迈克耳孙干涉仪光路图 迈克耳孙干涉仪光路图 若M1和M2垂直时,在A处可获得同心圆形的等倾
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