镁和碲元素含量对导电铜合金性能影响的研究.pdfVIP

442 勃 舷 材 许 2010年论文集 镁和碲元素含量对导电铜合金性能影响的研究’ 张美娟，陈 亮，亚 斌，贾 非，张兴国 (大连理工大学材料科学与工程学院，辽宁大连116024) 摘 要： 研究了镁和碲元素含量对导电铜合金的显 和铸锭中气孔缺陷，采用高纯氩气精炼，熔炼和浇注时 微组织、力学性能及导电率的影响。向铜中加入镬和 用氩气保护。 碲元素进行合金的熔炼，并对其进行显微组织、抗拉强 2．2试样的检测 度和延伸率，以及导电性等性能的测试分析。结果表 用X射线荧光光谱仪测量了熔炼后合金的成分， 明，在铜中加入少量的镁元素和碲元素，与纯铜相比具 用光学显微镜观察铸锭的显微组织(腐蚀剂为氯化铁 有较高的抗拉强度和延伸率，但是镁含量偏高时合金 的导电率显著下降，因此，应控制合金中镁含量处于较 用电子探针测试合金元素的分布情况，用XRD-6000 低值。 关键词：铜合金；镁；碲；抗拉强度；导电率 电子万能材料试验机在室温条件下测试合金的拉伸性 中图分类号：TGl46．1 文献标识码：A 能，试样标称直径为06ram的标准拉伸试样。用 D60K数字金属电导率测量仪测试材料的导电率，试 1 引 言 样尺寸为10mm×10mm×10mm。 高强高导电铜合金是一类具有优良的综合物理性 3实验结果与分析 能及力学性能的功能材料，是制备集成电路引线框架、 电车及电力火车架空导线、连铸机结晶器内衬、大型高 3．1合金的成分分析 速涡轮发电机的转子导线、电阻焊电极等的优良材料。 经X射线荧光光谱仪分析，合金中Mg、Te元素 近年来随着电子工业的迅速发展，高强高导电铜合金 的平均实际含量如表1所示。由于在普通大气环境下 日益成为人们研究的热点，目前开发研究的有Cu-Ag，进行合金的高温熔炼和浇注，存在合金元素烧损严重， Cu—Cr-Zr，Cu—Sn和Cu—Ni-Si等系列[1‘5]。Mg、Te与 且不容易稳定控制的问题。试验中采用中间合金代替 其它强化元素相比，密度较小，有利于降低铜合金的比 纯金属的方式加入到Cu液中，使得合金元素的烧损 重，较小的加入量可以起到显著的强化效果，并保持较 得到较稳定的控制。对比合金元素的设计量，Mg和 高的导电率，且具有较低的成本，因此Cu-Mg-Te系合 Te的平均烧损率各为30％和60％左右。 金的开发受到了广泛的关注。Te的加入可改善Cu的 表1 合金成分的设计■与测得量 抗电弧能力和易切削性，而不显著降低合金的导电性； Tablel Thenominalandactual of ingredientCu-Mg- Mg的加入可以提高合金的强度，同时Mg是一种活泼 Te alloys 元素，冶炼过程中的除气除氧效果明显，可提高铸锭的 设计量(％) 测得量(％) 品质【6]。因此，研究Mg、Te元素对导电铜合金的强化 试样号 Mg Te Mg Te 机制，分析合金元素含量对铜合金性能的影响规律，开 第1组 0