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SERDES 测试样片的抖动分析 2002 年 7 月 技术说明 TN1032 序言 1 ORT82G5 FPSC 器件 含有两个四 SERDES 背板接口块，这两个四 SERDES 总共可提供八路高速串行通道接口， 每路最高可工作在 3.7Gbit/s 的时间速率，每个通道可同时收发，提供完整的时钟数据恢复。在高速率情况下，抖动 是实现无误码数据传输的关键特性。本文讨论了器件的抖动性能，利用实验室的测试例子给出 SERDES 收发时的抖 动特性。测试的数据是针对一颗包括一个四 SERDES 的测试芯片，其性能与 ORT82G5 的双四 SERDES 宏是相同的。 发送抖动 完整的抖动测试 图 1 是实验室进行完整的 SERDES 发送抖动测试时的环境设置。 图 1 ：发送（总）抖动测试的环境设置 测试的串行数据速率为3.125Gbit/s 。采用伪随机的数据流，SERDES 通道配置为并行的环回模式，利用HP83480A 采样数字通信分析仪观察发送端输出波形眼图。分析仪会计算在 50%水平电平上的峰-峰抖动值及 RMS 抖动值。 DCA 的自动测试过程包括对输入的一段数字信号采样 1350 个数据点并量化，然后获取 3000 段这样的信号计算抖 动的静态参数。 参数结果如表 1 所示。试验中我们测试了不同工艺参数下的三类器件：快速、正常速度、慢速。其目的是使试 验能分析尽可能多的器件，另外我们还包括了试验温度和电压的变化。 1 tn 1032_01 莱迪思半导体公司 SERDES 测试样片的抖动分析 表 1 ：发送抖动测试结果 器件 环境温度 电压（V ） Tx 抖动 pS RMS Tx 抖动 pS p-p Tx 抖动（UI ） 正常速度 0°C 1.5 6.0 40.0 0.125 正常速度 25°C 1.5 6.1 46.7 0.146 正常速度 85°C 1.5 6.2 44.4 0.139 慢速 0°C 1.5 6.5 46.7 0.146 慢速 25°C 1.5 6.6 44.4 0.139 慢速 85°C 1.5 7.2 48.9 0.153 慢速 85°C 1.575 7.2 51.1 0.160 快速 0°C 1.5 5.7 42.2 0.132 快速 25°C 1.5 6.8 46.7 0.146 快速 85°C 1.5 7.9 55.6 0.174 快速 0°C