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现代测试方法 随着科学技术的进步和工业技术的发展，对物质的测试提出了更多更高的要求，于是涌现出了一些特点各异的方法。以下简要介绍几种不同的方法。 1.综合热分析法{TG/DTA} 综合热分析法是在程序控制下测量物质质量{TG}随温度{OTA}变化的一种测试技术%许多物质在加热过程中会在某一温度发生分解,脱水,氧化,还原和升华等物理,化学变化而出现质量变化及吸,放热现象利用加热或冷却过程中物质质量变化,热效应的特点可以区别和鉴定不同的物质而发生质量变化的温度,质量变化百分数及热效应的大小随物质的结构及组成而异所以可用物质的热分析曲线研究物质的变化过程如试样的组成,热稳定性,热分 2.X-射线衍射分析(XRD) ????当X-射线射入品体样品时会发生衍射，衍射的条件满足布拉格方 程，即:2dsin6=}(1) 式中:d-品体而网间距 ??????e-x-射线束与品而的夹角?}-x-射线束的波长 ????当种胶体或品体的结构定时，a值是系列的定值。囚此 若波长己知，而衍射峰的角度e用实验方法确定后，叫用上式得而网间距a。小断 改变e，而获得系列a值，进而据此确定胶体或品体的类刑。根据这原理，叫通过x-射线衍射分析技术，研究胶凝材料-的种类胶凝材料-化产物的判别及水化反应速度和水化过程等。 3.扫描电子显微镜分析(SEM ????扫描电子显微镜分析是通过高能电子束轰击样品表而，探测发射出来的电子信号以得到微观结构信息的种装置。在发射出来的电子中，背散射电子的能量较高，其产额取决于样品表而组成的原子序数，而}}_还受 表而起伏四凸所控制，囚此 利用背散射电子成像叫得到平均原子序数、表而形貌的信息。次级电子的能量较低，只能从样品表而发射出来，样品表而的形貌、表而电位及磁场对低能次级电子的影}}向很大，利用次级电子成像叫 得到表而形貌、表而电位，磁解温度、热分解产物和热分解动力学，即借助于热分析曲线叫推断该物质的反应机理及产物。无机胶凝材料-水化产物中的胶体或品体，在加热过程中，山于脱水、分解放出气体等而使试样的相对质量减少，产生放热反应。而每种胶体或品体脱水或放出气体时的温度是个定值，根据温度T值就叫 估计材料一中胶体或品体的种类，并根据加热时的质量损失百分率推算出某种旬、一物在分解前的百分含量，并以此判断胶凝材料一水化的程)变」场等信息。扫描电子显微镜对物质微细表而结构的观察相当有效，叫观察水化产物的结构形貌。 4.电子探针显微分析(EPMA ) ??????电子探针显微分析是用聚焦电子束照射在测试样品的微小区域上，通过测量发射出来的各种信号得到有关表而信息的种分析方法。即在扫描电镜的基础上，加上特征X射线的分析。常用的检测信号有特征X射线、背散射电子、二次电子和吸收电子。通过特征X射线波长和强度的测量进行元索定性定量分析，通过背散射电子、二次电子和吸收电子的测量叫得到平均原子序数、表而形貌、电位分布等信息。元索分析叫分点分析、线分析、而分析等。点分析是对样品的某点进行定性定量。线分析是沿着样品上的条H.线测定特定元索的浓度。而分析是观测特定元索的二维分布情况。电子探针显微分析对研究胶凝材料一的水化进程、水化产物的组成以及种类非常有效。 5.原子力显微分析(AFM) ??????原子力显微镜是扫描探针显微镜的种，AFM能够在接近原子尺度上研究小同材料一表而和界而特征，尤其在导电性较差的材料一表而结构和有关性质的研究中，发挥着越来越重要的作用，与SEM相比，样品叫以小经过导电性处理，获得更能H.观反映样品纳米尺度表而结构和性质的信息，为胶凝材料一的研究开启了扇新的大门。AFM是使用个端固定而另端装有尖锐针尖的对微弱力非常敏感的弹性微悬臂来检测样品表而形貌或其它表而性质。当压电陶瓷二维扫描控制器驱动针尖或样品扫描时，同距离有关的针尖一样品间相4.作用力(既叫能是吸引的，也叫能是排斥的)就会引起微悬臂发生变形，叫作为针尖一样品间相4.作用力的H.接度量。束激光照射到微悬臂的背而，微悬臂将激光束反射到个光电检测器.检测器小同象限接受到的激光强度差值同微悬臂的变形量会形成定的比例关系，产生叫测量的电压差。反馈系统根据检测器电压的变化小断调整针尖或样品的位置，叫以保证针尖一样品间作用力恒定小变。通过测量检测器电压对应样品扫描位置的变化，就叫得到样品的表而形貌图像。原子力显微镜能够观察到比用扫描电子显微镜更为精细的水化产物的形貌结构信息〕 6.红外光谱分析 ????红外光谱又称 分子的振转光谱。当用红外频率的光照射试样时，满足特定要求频率的光被吸收，引起试样分子振动和转动能级跃迁.所记录的透射比(吸光强度)与波长(或波数)的变化曲线称为红外吸收光谱。红外光潜的最大特点是具有特征性。分子的振动在实质上叫归结