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关于半导电屏蔽层电阻率试验的研究低压电气网一、引言?????? 在中、高压电力电缆生产过程中，由于制造工艺的原因，不可避免地在导体的外表面存在尖端或突起，这些尖端或突起处的电场非常高，将会导致导体尖端或突起处绝缘的交流击穿场强降低。众所周知，高的电场必然导致尖端或突起向绝缘中注入空间电荷。根据最新的研究成果，注入的空间电荷将引起绝缘的电树枝化或水树枝化。而绝缘的外表面和金属屏蔽之间不可避免地存在空气间隙，在电场作用下会引发间隙放电。为了缓和电缆内部的电场集中，改善绝缘层内外表面电场应力分布，提高电缆的电气强度，要求在导电线芯和绝缘层、绝缘层和金属屏蔽层之间分别加有一层半导电屏蔽层，称为导体屏蔽层和绝缘屏蔽层。??????? 国内外学者研究表明，控制半导电屏蔽层性能是改善电缆运行特性、提高电缆运行寿命的重要技术措施，而屏蔽层电阻率是其中的一个重要指标。在IEC标准中，IEC?60840对电缆半导电屏蔽层一直有电阻率的要求，IEC?60502直到1997；年版本才增加了半导电屏蔽电阻率的试验要求。我国中高压电力电缆现行标准GB/T?12706-2002等效采用了IEC?60502（1997）。近年来，国内外所有的6kV及以上电力电缆均按照标准进行了导体屏蔽层和绝缘屏蔽层电阻率的试验。??? 按照IEC标准和国家标准的附录中规定的半导电屏蔽层电阻率韵测试方法进行试验，我们发现