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第4讲 材料的结构检测(8) 超声波检测方法.ppt

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第4讲 材料的结构检测(8) 超声波检测方法

第4讲 材料的结构检测 2.长横孔(圆柱形)的回波声压 第4讲 材料的结构检测 3.球孔(球形缺陷)的回波声压 第4讲 材料的结构检测 4.大平底回波声压 第4讲 材料的结构检测 三、AVG曲线 描述反射体至波源的距离,反射信号的幅度(习惯用仪器增益值表示)、反射面积当量大小三者之间相互关系曲线称为AVG曲线,又称为距离—波幅—当量曲线。AVG是德文距离(Absband)、增益(Versbtarkung)、大小(Gr?βe)三者的字头。 A代表反射体至波源的距离,V代表反射体回波信号幅度,G代表反射体的当量大小。 AVG曲线比较直观地反映了各类反射体回波波高与反射距离当量大小之间的变化规律。利用AVG 曲线来调整探伤灵敏度和对缺陷定量是比较方便的。 第4讲 材料的结构检测 通用AVG曲线 第4讲 材料的结构检测 平底孔实用 AVG曲线 第4讲 材料的结构检测 (三)仪器、探头和试块 超声波检测仪是超声波检测的主要设备,它的作用是产生电振荡并加于换能器——探头,激励探头发射超声波,同时将探头送回的电信号进行放大,通过一定的方式显示出来,从而得到被检材料内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。 由于检测对象、检测目的、检测场合、检测速度等方面的要求不同,因而有各种不同的检测仪。 一、 超声波检测仪 第4讲 材料的结构检测 A型显示是一种波形显示,检测仪荧光屏的横坐标代表声波的传播时间(或距离),纵坐标代表反射波的幅度。 由反射波的位置可以确定缺陷的位置,由反射波的幅度可以估计缺陷的大小。 1. A型显示检测仪 第4讲 材料的结构检测 2. B型显示检测仪 B型显示是一种图像显示。检测仪荧光屏的横坐标是靠机械扫描来代表探头的扫描轨迹,纵坐标是靠电子扫描来代表声波的传播时间(或距离)。 因而可直观地显示出被探工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度。 第4讲 材料的结构检测 3. C型显示检测仪 C型显示也是一种图像显示,检测仪荧光屏的横坐标和纵坐标都是靠机械扫描来代表探头在工件表面的位置。 探头接收信号幅度以光点辉度表示,因而,当探头在工件表面移动时,荧光屏上便显示出工件内部缺陷的平面图像(即从探头方向看的投影),但不能显示缺陷的深度。 第4讲 材料的结构检测 二、探头 超声波检测中,超声波的产生和接收过程是一种能量转换过程,这种转换是通过探头实现的,探头的作用就是将电能转换为声能(产生超声波)和将超声能转换为电能。 将能量从一种形式转换为另一种形式的器件称为换能器。探头是一种电-声-电能量转换器件。因此,探头也称为超声换能器或电声换能器。 超声波检测中,由于被测材料的材质、形状不同,检测目的、条件的不同,而使用不同的探头。主要有直探头(纵波)、斜探头(横波)、表面波探头、双晶探头、水浸探头、聚焦探头,还有为检测特殊目的所用的扫描切换探头、列阵探头、轮式探头、扁平探头等。 第4讲 材料的结构检测 1.直探头 第4讲 材料的结构检测 2.斜探头 第4讲 材料的结构检测 三、试块 1.试块的种类 超声波检测中使用的试块,根据使用目的和要求,其形式和种类是多种多样的,对这些试块按不同方式可以进行不同的分类。 标准试块是由权威机关规定的试块。它的材质、形状和尺寸以及表面状态都是由权威部门作了统一的规定,作为该机构的标准试块,如国际焊接学会标准试块 IIW,IIW2 等。 标准试块主要用于测试和校验检测仪和探头性能,也可用于调整检测范围和确定检测灵敏度。 第4讲 材料的结构检测 2.试块的用途 (1)测试和校验检测仪及探头的性能,如组合灵敏度、垂直线性、水平线性、盲区、分辨力等。 (2)确定和校验检测灵敏度。 (3)评价缺陷大小,对被测工件评级和判废。 (4)调节检测范围,确定缺陷位置。 (5)测量材质衰减和确定耦合补偿。 第4讲 材料的结构检测 (四)超声波探伤方法和通用探伤技术 一、超声波检测方法概述 共振法 反射法 穿透法 液浸法 直接接触法 垂直探伤法 斜角探伤法 Northeastern University 材料概论: 第4讲 材料的结构检测 Northeastern University 第4讲 材料的结构检测 材 料 概 论 李 阳 东北大学 2006 年 11 月 第4讲 材料的结构检测 4.1 光学显微镜、定量金相分析技术 4.2 X射线衍射分析 4.3 扫描电镜、透射电镜分析 4.4 表面成分分析 4.5

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