现代材料分析方法.ppt

  1. 1、本文档共22页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
现代材料分析方法 郑州航空工业管理学院 机电工程学院 张新房 前言 一、《现代材料分析方法》课程的性质 二、《现代材料分析方法》课程的主要内容 三、《现代材料分析方法》与本专业其它课程的关系 四、教材及主要参考书 五、本课程的考核 一、课程性质 本课程是为材料加工专业本科生开设的专业课 其目的在于使学生系统地了解现代主要分析测试方法的基本原理、仪器设备、样品制备及应用,掌握常见的测试技术所获谢谢的解释和分析方法,最终是学生能够独立地进行材料的分析和研究工作。 二、课程的主要内容及要求 本课程的主要内容 本课程共分五篇11章。 第一篇绪论(现代材料分析方法概述) 材料组织与性能关系,显微组织结构控制及其内容,材料分析技术与材料的关系,分析技术简介。 第二篇 X射线衍射分析 X射线衍射原理、X射线衍射分析方法、X射线衍射分析的应用。 第三篇 光谱、电子能谱分析 红外吸收光谱分析法、激光拉曼光谱分析法、紫外-可见光谱及荧光光谱法、核磁共振谱法。 第四篇 电子显微分析 扫描电子显微分析、透射电子显微分析与扫描探针分析 第五篇 其它分析方法 热分析方法和部分分析方法简介 三、与本专业其它课程的关系 本课程是以高等数学、大学物理、无机分析化学、有机化学、物理化学、晶体学等课程为基础的。因此,学好这些前期课程是学号现代材料分析方法的其它。同时,现代材料分析方法又为后续的专业课程如材料合成与制备方法、陶瓷、功能材料、高分子材料等打下基础。 四、教材及推荐参考书 教材:张锐著. 现代材料分析方法. 化学工业出版社.2007 推荐参考书: 1. 周玉主编. 材料分析测试技术. 哈尔滨工业大学出版社, 2003 2. 来新民主编. 质量检测与控制. 高等教育出版社, 2005 3. 左演声主编. 材料现代分析方法. 北京工业大学出版社, 2000 4.杨南如主编. 无机非金属材料测试方法.武汉工业大学出版社, 2000 5.常铁军主编. 材料近代分析测试方法. 哈尔滨工业大学出版社, 1999 6. 周玉等. 材料分析测试技术—材料X射线衍射与电子显微分析. 哈尔滨工业大学出版社,1998 五、本门课程的考核 考查:以上课、回答问题、作业完成和出勤情况为依据进行考查,考查合格者方能参加考试。 实验:以实验报告形式考查。 考试:闭卷考试,百分制计分。 第一章 绪论 第一章 绪论 1、显微化学成分(不同相的成分,基体与析出相的成分,偏析等) 2、基体结构与晶体缺陷(面心立方,体心立方,位错,层错等) 3、晶粒大小与形态(等轴晶,柱状晶,枝晶等) 4、相的成分、结构、形态、含量及分布(球、片、棒、沿晶界聚集或均匀分布等) 5、界面(表面、相界与晶界) 6、位向关系(惯习面、挛生面、新相与母相) 7、夹杂物 8、内应力 第一章 绪论 第一章 绪论 第一章 绪论 第一章 绪论 2、电子显微镜(EM,Electron Microscope) EM使用高能电子束作光源,用磁场作透镜制造的具有高分辨率和高放大倍数的电子光学显微镜 (1)扫描电子显微镜(SEM,Scanning Electron Microscope) SEM是利用电子束在样品表面扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像的。最常用来观察样品表面形貌(断口等)。场发射扫描电子显微镜的分辨率可达到1nm,放大倍数可达到15-20万倍,还可以观察样品表面的成分分布情况。 第一章 绪论 (2)透射电子显微镜(TEM,Transmission Electron Microscope)。 TEM是采用透过薄膜样品的电子束成像来显示样品内部组织形貌与结构的。因此,它可以在观察样品微观组织形态的同时,对所观察的区域进行晶体结构鉴定(同位分析)。其分辨率可达10-1nm,放大倍数可达40-60万倍。 第一章 绪论 3、热分析技术 (thermal analysis thechnology, DSC, DTA etc) 热分析是在程序控制温度下,测量材料物理性质和温度之间关系的一种技术,是研究材料结构特别是高分子材料结构的一种重要手段。 第一章 绪论 4、表层分析技术(X射线光电子能谱(XPS)、Auger微探针(AES),波谱仪(WDS)、 能谱仪(EDS) etc) XPS可以探测2~20个原子层深度的范围 ,可以测定元素的化合价,多用于腐蚀产物分析。 AES可以确定样品元素成分,同时能确定样品表面的化学性质。多用于表面成分分析。 * * C O R A l 1.本课程主要讲授X射线衍射分析的基本原理、实验方法及应用,透射电镜、扫描电镜、电子探针显微分析的基本原理与方法及应用及热分析的应用。 2.掌握基本原理、

文档评论(0)

docinpfd + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:5212202040000002

1亿VIP精品文档

相关文档