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- 2017-08-21 发布于山西
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车队调度管理系统论文
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反走样技术是提高光栅图形显示质量的重要技术之一。研究如何消除或减缓走样现象,给人视觉上产生更舒适光滑的图形,在图形界面已成为人机交互主流方式的今天,具有一定的应用价值。在查阅了大量文献资料的基础上,论文从现有的反走样技术(如普通区域取样、普通过取样、加权过取样)入手,对反走样的理论基础和实现技术进行了分析研究。普通区域取样是将直线看成具有一定宽度的狭小矩形,当直线与像素相交时,求出两者相交区域的面积,然后根据相交区域的面积来确定像素的亮度值,从而达到反走样效果。而过取样是在提高分辨率下用点取样方法计算,然后对几个像素的属性进行平均得到较低分辨率下的像素属性。由于需要对每个像素进行处理,因此速度比区域取样明显慢了很多。普通区域取样和过取样都是在整数坐标上进行的,而WU像素反走样算法采用了非整数坐标改进,视觉效果比前两者更好。本文的研究重点在直线段反走样、曲线反走样和图像处理速度方面进行了研究和改进。为了提高过取样的速度,充分利用直线段像素可能存在的多段相似性,算法对其中的一段进行反走样处理后,其余各段只要简单地复制即可,比普通过取样算法明显具有优势,速度提高了很多,也为并行处理提供了可能。在现有的反走样文献中,对曲线反走样提及较少,本文对圆的反走样算法及实现进行了分析探讨,充分利用圆的八对称性,以加权过取样算法为基础在画圆的同时进行反
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