S3 光电检测技术 01.pptVIP

* 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 声波是弹性波，在介质中传播时，使介质产生相应的弹性形变，从而激起介质中各质点沿声波传播方向振动，引起介质的密度呈疏密相间的交替分布，介质的折射率也随之发生相应的周期性变化。 声波在介质中传播分为行波和驻波两种。 对于超声行波，介质折射率的变化为 对于超声驻波，介质折射率的变化为 * 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 喇曼─奈斯衍射 如果超声波频率较低，光波平行于声波面（垂直于声波传播方向），声光互作用长度L较短 在光波通过介质的时间内，折射率的变化可忽略不计，则声光介质可近似看做为相对静止的“平面相位光栅” 当平行光波通过声波面时，仅受相位调制，通过声光介质的平面波波阵面变成一个褶皱曲面。由出射波阵面上各子波源发出的次波将发生干涉，形成与入射方向对称分布的多级衍射光，即为喇曼─奈斯衍射 * 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 喇曼─奈斯衍射 当衍射角与波长满足 衍射光强达到最大值 * 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 喇曼─奈斯衍射 衍射光对称分布，同次级衍射光强相等 产生多级衍射光条件为 * 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 布喇格(Bragg)衍射 当声波频率高，声光作用长度L较大，光束与声波波面间以一定的角度斜入射，光波在介质中要穿过多个声波面，介质体现出“体光栅”的性质。 当入射光与声波面间夹角满足一定条件时，介质内各级衍射光会互相干涉，各高级次衍射光将相互抵消，只出现0级和+1级衍射光，即产生布喇格衍射。 * 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 布喇格(Bragg)衍射 当入射角等于布喇格角 多光束相干迭加，只出现正（负）一级衍射光 　　入射光全部转移到衍射方向！ * 3.1.2 介质中传输光特性参数调制 ③ 晶体中传输光波的调制 晶体中的声光调制 布喇格(Bragg)衍射 衍射光与入射光之间的夹角取决于激光波长、声波速率、声波频率，介质平均折射率 改变超声频率，可调制（控制）光衍射角 * 3.1.3 光波偏振光调制 ① 纵向电光调制 入射平行单色光，通过检偏器P1，形成线偏振光，通过KDP晶体，改变偏振光偏振方向，通过起(检)偏器，出射光服从马留斯定律，输出光强 * 3.1.3 光波偏振光调制 当调制电压远小于半波电压时 ① 纵向电光调制 * 3.1.3 光波偏振光调制 输出光强受控制电压线性调制。 应用意义：调制信号产生的交流信号，检测交流信号后，电路的放大倍数可以很大；交流信号抗干扰能力强，一般背景光都是直流信号。 ① 纵向电光调制 * 3.1.3 光波偏振光调制 ② 电光相位调制 当输入光的偏振方向与晶体感应主轴方向平行时，晶体中光不存在非感应轴方向投影分解，故外电场不改变出射光的偏振状态，仅改变其相位 * 3.1.3 光波偏振光调制 通过电压变化，对干涉仪测试光路进行相位补偿 ② 电光相位调制 * 3.1.3 光波偏振光调制 ③ 电光扫描 * 3.1.3 光波偏振光调制 改变电压频率，控制扫描频率； 改变电压幅度，控制最大扫描角。 ③ 电光扫描 * 3.1.3 光波偏振光调制 ④ 磁光调制 线偏振光沿外磁场方传播时，偏振方向将发生旋转现象，即Faraday旋光效应。 旋转角度与磁场强度成正比，与光程成正比 * 3.1.4 直接调制 直接调制是把要传递的信息转变为电流信号注入半导体光源(激光二极管LD或发光二极管LED)，从而获得已调制信号。由于它是在光源内部进行的，因此又称为内调制，它是目前光纤通信系统普通使用的实用化调制方法。 * 3.1.4 直接调制 半导体激光电源调制 将调制信号加载于半导体激光驱动电源上，对输出光强度或者光脉冲间隔进行调制 半导体激光器存在一个阈值电流;当驱动电流小于阈值电流时,激光器基本不发光,或者只发出很弱的,谱线宽度很宽的荧光;当驱动电流大于阈值时, 开始发出激光 * 3.1.4 直接调制 半导体激光电源调制 为了获得线性调制，使工作点处于输出特性曲线的直线部分，必须在加调制信号电流的同时加一适当的偏置电流Ib，这样就可以使输出的光信号不失真。 3.1.4 直接调制 * 半导体激光电源调制 锯齿信号幅度与输入信号幅度值相同时，指令激光电源驱动输出脉冲(脉冲宽度给定)，激光输出一个矩形方波。 方波的间隔，取决于信号的相位变化。序列信号的间隔与输入信号相位对应，将模拟信号转变成数字信号。 3.1.4 直接调制 * 半