电子设备可靠性的加速试验.pdfVIP

第26 卷第4 期 光电技术应用 Vol.26 ，No.4 2011 年8 月 ELECTRO-OPTIC TECHNOLOGY APPLICATION August ，2011 ·测试、试验与仿真· 电子设备可靠性的加速试验 张秋菊 ，刘承禹1 2 （1. 东北电子技术研究所，辽宁 锦州 121000；2. 二炮研究院，北京 100085） 摘 要：简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程，以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的 实施规划，并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT ）和高加速应力筛选试验（HASS ）的相关内容，详细介绍 了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明，给出了基本应用原则。 最后就开展可靠性加速试验中专业人员协同工作以及数据库建立给出了一些建议。 关键词：可靠性加速试验；高加速寿命试验；