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边界扫描测试技术 徐晓松 李二文 l：海赛莫电子科技有限公司 泰瑞达(上海)有限公司 摘要：本文简要介绍了边界扫描技术的原理和结构，边界扫描技术在电路板和系统测试中的 应用，以及生成边界扫描测试的软件工具。本文还介绍了可测性设计的概念和重要性。 IEEE 关键词： 1149．i边界扫描测试 l边界扫描技术简介 图1显示的统计表明，在刚刚焊接完成的电路扳上发现的故障中的95％以上是工艺故障。 这些1：艺故障包括错件、缺件、元件极性错误、元件内部连接故障、焊接短路和开路等等。 图1电路板故障分布 H前，应川最成熟、最广泛的用于发现这类工艺故障的测试技术是在线测试技术(In—Circuit Test，ICT)。随着技术的进步，在线测试技术的面临一些新的挑战。带来这些挑战主要原因是： · BGA等高密度封装技术的广泛应用，以及高密度电路板布局限制了ICT技术通过物理 探针访问电路上每个网络的能力； · 器件功能越来越复杂，使得传统的基于器件功能的向量测试受到巨大的挑战，测试向 量的开发调试需要很长的周期； · 对于·些高可靠性要求的特殊领域产品，如航空、航天、军工等，在线测试技术应用 由丁-存在反驱动风险而受到限制。 此外，由于相对较高的测试成本和较长的测试周期，使得在线测试技术在产品研发、中 试阶段，以及小批量的产品制造过程中的应用受到限制。 Group)标准。边界扫描技术基本的思想是，把用于测试的电路集成在元件内部，并用一致的 方式来访问和控制这些电路。IEEE 1149．1定义了可集成到器件内部的测试逻辑，这些逻辑为 以下应用提供了标准化的手段： · 测试电路板或其它电子产品上集成电路之间的互连： · 测试集成电路自身的功能： · 在电路正常工作期间观察或修改器件的行为。 边界扫描技术关键的优势在于，它提供了独立于器件内部功能逻辑的观察器件的输入和 控制器件的输出的能力。这种能力可以被看作是集成在硅片上的“虚拟”的探针，从而消除了对 实际的物理探针的需求；并且不再需要复杂的测试向量来保证覆盖率，测试向量可以用软件自 动生成，故障的诊断定位也更容易。通过应用边界扫描测试技术，传统的在线测试可以很好应 对高密度器件和复杂逻辑带来的挑战。 边界扫描技术测试还可以被用于器件功能测试，在制造、现场维护和维修时，利用边界 扫描功能测试可以测试器件内部逻辑功能，从而更好地定位故障。 边界扫描技术还带来一些新的令人激动的应用。只需要一台PC，一个低成本的控制器， 以及边界扫描测试软件，就可以组成功能强大的桌面型边界扫描测试工作站。低廉的测试成本 和很短的测试开发周期使得桌面型的边界扫描测试工作站成为电路板原型开发调试阶段、现场 测试和维修阶段、以及小批量制造阶段的理想选择。 从1990年边界IEEE1149．1标准颁布以来，边界扫描技术已经成为最重要的测试技术之 ～。所有主要的半导体器件厂商都支持这一标准，主要测试设备厂商都提供支持边界扫描技术 的软件和硬件工具，越来越多的电路设计中应用边界扫描测试技术。作为一种标准的协议，边 界扫描技术还被拓展到测试以外的应用领域，如可编程器件的程序下载和微处理器的在线仿真 等。 2边界扫描技术原理 21边界扫描技术架构 边界扫描技术在器件的边界(输A．／输出)设置扫描路径，通过扫描操作提供不依赖器件 自身功能的可观测性和可控制性。图2显示了边界扫描电路的基本结构。 N㈣●●■■■■o■n■_㈣m-‘IL 图2边界扫描电路结构 边界扫描路径，即边界扫描寄存器(图2中的阴影部分)，由一系列串连在器件的测试数 Cell，BSC)组成。每个BSC可以看作是一个控制器件引脚的开关， 界扫描单冗(Boundary—Scan 存器件正常]一作时，BSC连接器件的引脚和内部逻辑，器件的输入输出可以透明地通过BSC。 {：l_l当器件进入边界扫描测试模式时，BSC断开器件的引脚和内部逻辑的连接，器件的边界(输 入／输f1{)可以通过这样