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原子吸收分光光度法 §4.3 干扰及其消除方法 ? 一、非光谱干扰 （一） 物理干扰 ：试样在处理、转移、蒸发和原子化的过程中，由于 任何物理因素的变化而产生对吸光度测量的影响。 产生原因：溶液的粘度、密度、总盐度、表面张力、溶剂的蒸气压及 雾化气体的压力、流速等。 特点：具有非选择性质，对试样各元素的影响基本相同 发生地点：在试液抽吸过程、雾化过程和蒸发过程   消除的方法： 配制与被测试样组成相同或相近的标准溶液采用标准加入法。 若试样溶液浓度过高，还可以采用稀释法。  （二）化学干扰 概念：被测元素原子与共存组分发生化学反应，生成热力学更稳定的化合物，影响被测元素的原子化。 特点：具有选择性，要消除其影响应看不同性质而选择合适的方法。 消除的方法: 1、加入干扰抑制剂　　 （1）释放剂：它能与干扰物生成比被测元素更稳定的化合物，使被测元素从其与干扰物质形成的化合物中释放出来。 例如：磷酸根干扰钙的测定，可在试液中加入镧、锶盐，镧、锶与磷酸根首先生成比钙更稳定的磷酸盐，就相当于把钙释放出来。 （2）保护剂： 它能与被测元素生成稳定且易分解的配合物，以防止被测元素与干扰组分生成难解离的化合物，起保护作用。 保护剂一般是有机配合剂，用的最多的是EDTA和8-羟基喹啉。 （3）缓冲剂： 有的干扰，当干扰物质达到一定浓度时，干扰趋于稳定，因此，将被测溶液与标准溶液加入同样达到干扰稳定量时，干扰物质对测定就不发生影响。 如在用乙炔—氧化亚氮火 焰测钛时，可在试样和标准溶液中均加入200ppm以上的铝，使铝 对钛的干扰趋于稳定。 用于抑制干扰的一些试剂 2、选择合适的原子化条件　 （1）提高原子化温度，化学干扰一般会减小。 使用高温火焰或提高石墨炉原子化温度，可使难解离的化合物分解。 （2）加入基体改进剂 3、化学分离：溶剂萃取、离子交换、沉淀分离等　　 分析元素与基体改进剂 （三） 电离干扰  概念：在高温条件下，原子发生电离成为离子，使基态原子数减少，吸光值下降。 主要发生在电离势较低的碱金属和部分碱土金属中。 影响因素：原子化温度、被测元素的电离电压及浓度 消除的方法：加入消电离剂 消电离剂一般是比被测元素电离电位低的元素，在相同条件下，消电离剂首先被电离，产生大量电子，抑制了被测元素的电离。 二、光谱干扰  （一）谱线干扰 ?1、吸收线重叠：指试样中共存元素的吸收线与被测元素的分析线波长很接近时，两谱线重叠或部分重叠，使测得的吸光度偏高。 消除方法：另选分析线，若还未能消除干扰，就只好进行试样的分离。 ?2、非吸收线干扰： 指在光谱通带范围内光谱的多重发射，也就是光源不仅发射被测元素的共振线，而且在其共振线的附近有其他的谱线，对于这些多重发射，被测元素的原子若不吸收，它们即被检测器所检测，产生一个不变的背景信号，使吸光度减小，降低了灵敏度。  消除的方法： 可以减小狭缝宽度，使光谱通带小到足以遮去多重发射的谱线； 若波长差很小，则应选分析线； 降低灯电流也可以减少多重发射； 若灯使用时间长，内产生氧化物灯杂质，则可以反向通电进行净化处理。 3、原子化器的发射 来自火焰本身或原子蒸气中待测元素的发射。 当仪器采用调制方式进行工作时，这一影响可得到减免。如果干扰仍然存在，则可适当增加灯电流,提高光源发射强度来改善倍噪比。 （二）背景干扰 　???背景干扰是指在原子化过程中，由于分子吸收和光散射作用而产生的干扰。一般使吸收值增加，产生正误差。 1、分子吸收干扰：指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐射吸收而引起的干扰。?? ?2、光散射：原子化过程产生的微小固体颗粒使光产生散射，使没被吸收的光不能达到检测器被检测，吸光度增加，称为“吸收”。通常入射光波长越短，光散射作用越强，试液基体浓度越大，光散射作用越严重。 先用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和。再用氘灯（紫外光区）、碘钨灯（可见光区）、氙灯（紫外、可见光区）在同一波长测定背景吸收(这时原子吸收可忽略不计)计算两次测定吸光度之差，即为原子吸收光度。 §4.4 原子吸收光谱分析的实验技术 一、 测量条件的选择 1、狭缝宽度：影响光谱通带宽度与检测器接受的能量。 合适的狭缝宽度：不引起吸光度减小的最大狭缝宽度。 2、空心阴极灯的工作电流 一般原则：在保证有