DEM技术中PMMA深层刻蚀工艺的研究.pdfVIP

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104 压电与声光 2001年增刊 文章编号:1004-2474(2001)S0·0104·03 DEM技术中PMMA深层刻蚀工艺研究 杨帆,陈迪,李以贵,唐敏,毛海平,李昌敏,倪智萍 (上海变强大学微蚋米科学技术研究院,上海200030) 摘要:DEM技术是由上海交通大学开发出来的一种全新的三堆微细加工技术.本文旨在研究DEM技术中利用反应 离子刘蚀(RIE)深层刻蚀塑料PMMA的工艺.主-Jt-研究了刺蚀功丰、工作气压、割蚀气体流量等对刻蚀速率,侧壁 和底部状态等的影响.开发出一种新颖的割蚀方法,采用反应离子刺蚀与兆声清洗相结合的方法,得到高50um,深 宽比5且侧壁光滑垂直,底郝干净平整的微结构. 关键词:DEM技术;反应离子刘蚀:PMMA;深雇刺蚀 中图分类号:TN405.98文献标识码:^ 太 onPMMA ProcessinDEM Study Deepething Technique YANG Fan,CHENDi,LI Min,MAO Yi-gui,TANG Hal-ping,LIChang-min。NIZhi-ping (ResearchInstituteofMicro/Nanometer Jiao Science&Technology,ShahghaiTong 200030.China) University,Shanghai Abstract:DEMisa newthree·dimensionalmicrofabrication technique technique by developedShanghaiJiaotong this PMMA inDEM University.In reactiveion paper,theplastic deepetchingprocess Techniqueusing etchingprocess(RIE) was resultssuchaS ofside-wallandboaom obtained investigated.Differentetching etchingrate,morphology surface,were underdifferentPIE RF and flow.Wealso anovel processparametersincludingpower,workpressureetching gas developed combinedRIE with mcthod,which we excellent of etching processmegasoniccleaning.Finallyacquired patterns smoothandvertical and higll·aspect-ratio(5,50p.m smoothbosomsurfaceundercertain

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