粘接理论的研究的新进展.pdfVIP

揖要：牯接理论的研究，对于促进胶始荆的研制帝改善粘接工艺有重要的意义与 作用．近年来_本文作者在牯接理论方面作了一些初步的研究，本文主要舟绍站接 界面形成配位链的初步证实及用边界元法计算枯接搭接接头应力结果曲分析． 关键词：粘接界面 配位键边界元 一，前言 众所周知，牯接技术是一门古老而又年青的技术．所谓古老，就是说它在使用上历史寒 久，可遣朔到古代．所谓年青，就是说它在理论土，特别是在牯接机理、桔接强度及其计算 莓上还研究得很不够．我国粘接界人士，在牯接理论研究方面做了大量曲工作．也取得不少 成果，推动了胶牯荆的研制，完善了粘接工艺．本文主要介绍作者近期在粘按理论研究方面取 得的一些进展，目的在亍使牯接理论的研究得到发晨、深化与提高． 二，粘接界面形成蔑位键的初步证实 桔接界面的配位键是关系到粘接机理与粘附力产生的一个理论问题． 砧接界面的配位键是指胶粘剂与被牯物在牯接界面上由胶牯剂提供电子对，豉枯物提供接受 电子对的空轨道，从而形成牯接界面的配位键． 近几年来，我国不少研究者对配位键机理进行了研究，有的作者认为：“牯接界面曲配位 键(包括氢避)才是世咐力最普遍，最重要的来源“h．。配价键力结合是大多数，是牯接接 头产生牯接力的主要贡献者oh．这些对牯接机理的认识，无疑是一长足的进步，至于牯按界 面是否存在配位链还缺少可靠的证据．本文作者借助现代实验仪器和方法，用X射线光电子 谱和离子照射刻蚀技术相结合，对环氧胶牯接剂与钢及氧化铝粘接界面各元素的化学状态进 行了观察与分析，从而初步证实牯接界面形成配位键”】． 图I、田2、图3分别为，试样胶层(环氧胶)界面，4 5钢基体NlS、0ls、Fe口的X射 线光电于谱(XPS)图． H C C H 出，牯接界面N。。谱线除了有两个与图1(a)等能值的峰外，出现了一个能值更高的峰，是 — PC键 ^o●“哩工r e re 剂中具有孤电子对的N原子和0原子与钢基体中具有空轨道的Fe掉子形成了配位键 瓠 圈1(a)肢层中NBXPS谱圈 圈2(8)脏层中0l：XPS谱雷 fb)界面处NlsxPs谱田 (b)界面赴0。sxPS谱田 。’。 ：竺：竺警缦?箩基体相比发生了化学位移，能值提高，这摔就确定了环氧胶与钢基体粘接 界面有配1立键生成．该界面配位键模型为： …警薰曾孽位键机理，不但可以解释用其它牯接理论难以解释的枯接现象．如聚四乙烯材 料的难粘性等·而且还可以按厢形成配位键的规律，改善胺粘剂的性能，提高粘接强度．“” 三、用边界元法计算粘接搭接接头应力 随着牯接技术的发晨。粘接结构越来越多地应用到工业生产的各个领域，形式也交得复 杂．但是目前牯接结构设计在一定程度上还处于经验设计的阶段．其可靠性较差，连接强度 分散性大，所驵，粘接结构强度的分析与计算是一个重要的课题．它是粘接结构强度的_璜测、 可靠性的评估，以及结构合理设计的基础． 作为理论计算所有的解析方法都是建立在一系列假设基础上的，并足适用于简单的胶接 结构，对于结构复杂或载荷作用形武复杂的粘接结构就无能为力了。 有限元计算方法的出现为牯接结构强度分析与计算提供了有力的工具．Wooley和 Carver，Adams等人首先将有限元应用到粘接结构的力学分析中“】，它不必对研究对象绐出过 多的假设，并可对任意形状的秸接结构进行分析与计算，得到的结果比巳有的解析解更可信． 从大量的文献可以看出，有限元法的应用使得牯接结构强度的分析与计算进入了一个新的阶 段．但是因肢层一般很薄，其长度又是厚度的几十倍到几百倍，特别是需要分析沿胶层厚度 方向应力的分布时，这样就使得计算的工作量很大．