合肥光源托歇克效应损失电子的探测.pdfVIP

第 23卷第 3期 强 激 光 与 粒 子 束 Vo1．23，NO．3 2011年 3月 HIGH POW ER LASER AND PARTICIE BEAMS M ar．，2011 文章编号 ： 1001—4322(2011)03—0770—05 合肥光源托歇克效应损失电子的探测 孙玉聪， 蓝杰钦， 张剑锋， 徐宏亮，孙葆根 (中国科学技术大学 国家 同步辐射实验室 ，合肥 230029) 摘 要： 束流寿命是衡量储存环性能的重要参数 ，直接影 响着光源的正常运行 。对于合肥光源 (HLS)， 托歇克(Touschek)寿命是影响束流寿命 的重要 因素。为 了研究 Touschek寿命 ，需要探测 由于 Touschek效应 所损失的电子。介绍了束流寿命 的概念，说 明了Touschek效应 的原理和机制 ，利用蒙特卡罗软件 EGSnrc模 拟计算 了丢失 电子与真空壁的相互作用 ，通过塑料 闪烁体探测器和光电倍增管获得 了由于 Touschek效应丢失 的电子所产生的信号，然后将信号经过放大甄别和符合处理后 ，用计数器测量 了计数率 。结果表 明：由于 Touschek效应而成对丢失的电子 的确存在 ，且 电子损失率随流强的降低而减小 。这为下一步储存环 的能量标 定工作做好 了前期准备 。 关键词 ： 合肥光源； 束流寿命 ； 托歇克效应 ； 蒙特卡罗方法 ； 塑料闪烁体探测器 中图分类号： TI506 TL8l2．1 文献标志码 ： A doi：10．3788／HPIP0770 合肥光源是以真空紫外和软 x射线为主的第二代专用 同步辐射光源 ，其储存环的电子能量为 800MeV， 属于低能光源。经过二期工程改造以后，流强可达 300mA 以上 ，束团发射度设计值为 160nm ·rad。同时，束 流寿命也得到了改善 ，通用光源运行模式下束流寿命高于8h。合肥光源每年要为国内外 200余位科研人员提 供约 5000h的同步辐射光，可见 ，提高束流寿命 ，从而提高有效供光时间有着十分重要的意义。束流寿命是 储存环的一个重要指标 ，对于合肥电子储存环 ，束流寿命主要由真空寿命和托歇克 (Touschek)寿命组成，而当 真空度足够好时 ，Touschek寿命则成了决定束流寿命 的主要因素。因此 ，为了更好地 了解合肥光源的Tous— chek寿命 ，我们对由于 Touschek效应而损失的电子进行 了探测 。 1 束流寿命 储存环中运行的电子 由于受到多种因素的影响而不断丢失，直观的反映就是束流流强的指数衰减，而电子 的丢失可分为快速丢失和逐渐丢失两种 。快速丢失主要来源于机器本身及束流的不稳定性 ，逐渐丢失主要归 因于3种效应的作用 ：量子效应、真空效应 口和Touschek效应 2。]。束流寿命即储存环中的粒子数 目减少到起 始数的e 时所用的时间。束流寿命表征的是逐渐丢失的束流电子 ，所以只有在快速束流损失被完全抑制时， 考虑束流寿命才有意义。以下讨论都是在快速束流损失被完全抑制的情况下展开的。 在 t时刻束流的相对损失率为 1 (1) 一 式中：N是束流中的电子数 目；P是与束流和储存环中其它参数相关的损失因子。束流寿命定义为 r(N ，)一 ) 根据影响束流寿命的 3种效应 ，可以把束流寿命分为 3部分，即量子寿命 ，真空寿命 r及 Touschek寿 命 r，它们 的关系可写成 [5 1／r一 1／ + 1／r+ 1／rT (3) 由于 电子储存环的真空室尺寸远大于电子束团尺寸，所 以量子效应造成的束流损失与总的损失相 比