TTL和CMOS.pptVIP

实验一、 集成门电路逻辑功能及参数的测试 一、实验目的 1、认识集成门电路的管脚排列。 2、掌握门电路的逻辑功能及参数测试方法。 3、熟悉TTL电路和CMOS电路的使用规则 和注意事项 输入输出电平： 5V CMOS: 低电平输入电压范围UIL ：0－ 1.5V。 高电平输入电压范围UIH ：3.5－5V。 低电平输出电压范围UOL： 不大于0.33V。 高电平输出电压范围UOH ：不小于4.4V， 2．TTL和CMOS与非门的参数测试 （1）输出高电平VOH和输出电平VOL ： （2）TTL的低电平输入电流IIl和低电平输出最大IoLmax电流及低电平扇出系数N ： 4. CMOS与非门不用的输入端不能悬空，应按逻辑功能的要求接VDD或VSS 5. CMOS与非门输出端不允许直接接VDD或VSS，以免损坏器件。 6. CMOS电路的输入电压VI应满足VSS＜VI＜VDD，以防止输入保护电路中的二极管正向导通，产生大电流。实验时，应先接通电源VDD和VSS，后加输入信号VI，关机时要先撤除VI后关闭VDD和VSS。 7. 输入端的输入电流一般不超过1mA。 8. 每个芯片使用时注意电源和地的连接。 六、实验报告 1. 认真记录所测与非门的主要参数VOH、VOL、IIL、  IOL，并与标准值比较且两种器件进行比较。 2. 用坐标纸仔细描绘所测与非门传输特性曲线，标 出VOH、VOL、VON、VOff，两种器件进行比较。 七、思考题（写在实验报告中） 1.TTL器件与CMOS器件在处理不使用的输入管 脚上有什么区别？ 2.为什么没有要求测量CMOS器件的电流参数？ 3.在测量I oLmax电路中，串入的100欧的电阻有 什么作用？它的取值需要满足什么条件？ 4.通过本次实验, 总结TTL及CMOS器件的特点及 使用的收获和体会。 二、实验设备 1．数字存储示波器：TDS1002 。 2．函数信号发生器：EE1641D 。 3 ．数字万用表：UT58A。 4．数字实验箱：CDS-02（?） 5.可跟踪直流稳定电源：SS3323 三、实验原理 本实验选择TTL两输入与非门74LS00和CMOS两输入与非门4011，它们的外部管脚定义相同，如下图所示。 TTL： 低电平输入电压范围UIL ：0－ 0.8V。 高电平输入电压范围UIH ：2－5V。 低电平输出电压范围UOL： 不大于0.4V。 高电平输出电压范围UOH ：不小于2.4V， 门电路输出高、低电平的具体电压值与所接的负载有关。 1、测与非门的逻辑功能 在实验箱上将74LS00和74HC00（4011）分别插到实验箱插座上，输入高低电平，用万用表分别测试输出电压并将测试结果填入表中。 四、实验内容及步骤： TTL门电路： VOH= VOL= CMOS门电路： VOH= VOL= a.低电平输入电流是指输入端对地电流，其余输入端悬空。可采用间接法测量。输入端经100电阻接地，用万用表测量其电压除以R得到输入电流。 b.低电平输出电流测量方法100欧串联10K的电位器直接接到输出端，调节RW用万用表测量VO（即输出对地的电压），当VO=0.4V时，RW不动，测100欧姆上的电压，间接得到IOL 扇出系数是指驱动同类门电路的数目，用以衡量带负载能力。调RW测量VO≤0.4V时的最大电流IOL。则扇出系数N=IOL/IIL。 （3）TTL和CMOS与非门的电压传输特性： 根据所测表,实验报告上画出电压传输特性曲线,并在曲线上标出VOH、VOL、VON、VOFF 测量方法：把电位器调到一端,测此时的输入和输出电压,慢慢往另一端调，每调节一次Rw,测量一次Vi和Vo,记录在下表中 5v Vo 3 2 1.3 1.2 1.1 1.0 0.9 0.8 0.5 0v Vi CMOS的1脚必须接高 3、动态测试： 将函数发生器调至TTL输出、?=1kHz，接入A输入端。 ①B端接1时，用示波器同时观察A和L的波形并记录。 ② B端接0时，观察并记录波形。 B A L 2 1 “1” 3 A B=1 L 五、注意事项： TTL与非门对电源电压的稳定性要求较严，只允许在5V上有±10％的波动。 超过5.5V，易使器件损坏；低于4.5V又易导致器件的逻辑功能不正常。 TTL与非门不用的输入端允许悬空(但最好接高电平)，不能接低电平。 TTL与非门的输出端不允许直接接电源电压或地，也不能并联使用。   *