微流控芯片上安检测的设计及应用.pdfVIP

垩堡盔兰堡主堂垡堕茎 !苎垫茎一 摘 要 total 微型全分析系统(Miniaturizedanalytical system，pTAS)在短短的十余年 内，已经发展成为分析领域的重要前沿。但是目前在微型全分析系统中应用较为 普遍的检测方法激光诱导荧光(ELF)、化学发光法和质谱法(Ms)等各具特色和不 足，且不利于pTAS的微型化和便携化，而电化学检测方法，尤其是安培检测出于 检测灵敏度高、选择性好，成本低等特点以及在微型化和集成化方面的优势，已 显示出它在微型全分析系统领域中的应用前景。但是许多问题尚待解决，比如， 电极尤其是参比电极没有实现集成化；电极的表面容易污染，安培检测结果的重 现性不高。针对这些问题本课题从芯片上电极的集成化及更好地实现系统的微型 化方面进行了研究。 首先，对安培检测设计原理的分析表明，影响检测信号的最主要因素包括检测 电位、电极表面积、电极布置、检测池厚度、表观电阻参数等。重点对三类微参 比电极性能