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Synthesis of Zeolite Synthesis of Zeolite Synthesis of Zeolite 分子筛的合成 分子筛合成的原料：非均相的硅铝酸盐凝胶，最典型的凝胶组成是由活性硅源、铝源、碱和水混合而成。若合成高硅分子筛还必须加入有机模板剂。 Characterization of Zeolite 晶体结构和缺陷测定 § 晶体结构： XRD 实验测得谱图与标准谱图比较，如发现多了一些衍射峰或少了一些衍射峰，测定的样品可能存在其他的晶相，或者样品不具有预期的结构。衍射峰的强度可以判断样品的结晶度。 相对结晶度＝（样品的hkl峰强度 / 标样的hkl峰强度） ? 100％ 平均晶粒尺寸＝ K?/BCOS? ?： x射线波长 B：衍射峰半高宽 § 缺陷位： 堆垛层错缺陷 硅羟基缺陷 Characterization of Zeolite 末端硅羟基：外表面上的硅羟基，处于晶体结构的末端。 硅羟基对：分子筛中的Si-O-Si 键水解后生成的羟基对。 羟基空穴：分子筛骨架结构脱除一个T原子（如铝），形成羟基空穴。 用IR和NMR可以检测羟基缺陷。 例：3710cm-1处为羟基空穴的特征峰，IR谱的吸收值与空穴浓度呈正比； Characterization of Zeolite 化学组成分析 测量指标：Na, Si, Al含量 表示方法： Na2O% 和Si/Al原子比或SiO2/Al2O3物质的量的比 测量方法： 破坏性的润湿法： （1）称取1g左右的分子筛样品，加入40ml浓硫酸，加热至出现 白色烟雾，用水稀释至200ml，过滤，保留滤液（1）。 （2）滤渣经干燥后，在10000C灼烧，称量记为质量a；然后加入 10ml HF酸，小心蒸发至干，再在10000C下灼烧，称重记为质量b， a-b为样品SiO2含量 （3）灼烧后的残渣加2g左右的硫酸钾，加热熔融，然后将熔融物溶解于 100ml水中，与滤液（1）合并后，用原子吸收光谱法分析Na, Al含量。 Characterization of Zeolite 非破坏性的物理分析法： X射线荧光光谱法：用高能量的X射线照射样品，样品中不同的原子受激发放逐电子，留下空位。能量迟豫的结果是高层电子填充空位，同时放出X射线荧光或发出俄歇电子。 俄歇光谱法（AES）：原理同X射线荧光光谱法。 X射线光电子能谱（XPS）：测量样品受激放逐的初级电子的能量谱进行元 素分析的。 电子探针微分析（EPMA）：用电子束激发样品产生特征X射线进行微区成分分析的方法。电子束径很小（～8nm），因此EPMA得到的是样品表面一小点上的组成，一般用电子束进行扫描，可以得到样品表面元素的分布状况。 Characterization of Zeolite 骨架硅铝比分析 XRD 晶胞常数(a)测定 Y型分子筛晶胞常数(a)随分子筛骨架的铝含量增加而线性增加. NAl = 1152(a – 2.4191) NAl = 48 ～ 77 NAl = 1055 (a – 2.4117) Si/Al 较高时 Characterization of Zeolite 红外光谱 分子筛的红外光谱振动峰可分为结构敏感和不敏感两类，骨架硅铝比用结构敏感峰的波数计算。 结构敏感振动峰： 反对称伸缩 1050 ～ 1150 cm-1 对称伸缩 750 ～ 820cm-1 双环振动 500 ～ 650cm-1 孔口振动 300 ～ 420cm-1 Y 型分子筛： NAl = 0.766 (1086 - ?1) ?1：反对称振动频率 NAl = 1.007 ( 838 - ?2 ) ?2 ：对称振动频率 丝光沸石： NAl = 0.1848 (1105 - ?1) ?1 ：反对称振动频率 Characterizati