新型CCD雷射位移感测器.pdf

全新 超高速、高精度CCD 雷射位移感測器 LK-G 系列 最優秀的 非接觸式雷射量測系統 嶄新登場 可準確量測任何物體 創新的CCD雷射位移感測器 同級中最快的速度 超高的精度 同級中最高的解析度 50 kHz ± 0.03% 0.01 µm 超高速、高精度、長距離 超高速 LK-G10/G15系列 超高速感測器， 解析度高達0.01µm 同級中最快的速度 超高的精度 同級中最高的解析度 50 kHz ±0.03% 0.01 µm※ 高精度 LK-G30/G35系列 可準確量測透明物體， 塑膠和金屬制品。 同級中最快的速度 超高的精度 同級中最高的解析度 50 kHz ±0.05% 0.05 µm※ 長距離 LK-G150/G155系列 集高精度、長距離和最快的 取樣速度於一身 量測範圍： 150 ±40 mm 同級中最快的速度 超高的精度 同級中最高的解析度 50 kHz ±0.05% 0.5 µm※ ※ 不需申請日本出口許可的機型解析度為0.3 μm或0.6 μm ，分別包括 LK-G10H/G15H/G30H/G35H和LK-G150H/G155H 。 2 跨時代水準的產品規格，解決各種量測方面的應用需求 有6種感測頭可供選擇，配合全新演算法和2種級型的光學系統一同使用 LK-G10/G15 寬光點型 半導體 電子 LCDLCD 量測矽晶片的厚度 量測超薄HDD的偏擺 控制分配器的高度 對於表面粗糙的物體，其表面不規 量測新鮮麵條的厚度 定位液晶層 則性會引起漫射，而寬光點型可以 中和這種漫射，阻止資料產生波動。