非接触式IC卡硬件驱动层的系统测试方法分析研究.pdfVIP

非接触式IC 卡硬件驱动层的系统测试方法研究 非接触式IC 卡硬件驱动层的系统测试方法研究 摘 要 随着信息时代的到来，非接触式IC 卡（Integrated Circuit Card，集成电路卡） 在日常生活中的应用日趋广泛，这对嵌入式软件系统测试方法的有效性与实用性提出了 新的挑战。高层次的安全保护已成为了非接触式 IC 卡得以广泛使用的基础。在非接触 式 IC 卡的系统层次架构中，硬件驱动层位于硬件层以及用户 COS （Chip Operating System，片上操作系统软件）之间，在实现对各个硬件模块存储或操作的同时，隔离了 对于硬件资源的攻击风险。论文探讨了非接触式 IC 卡硬件驱动层的系统测试方法，包 括在FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)平台上进行在线测试 以及样卡的回归测试方法。 本文讨论了嵌入式软件的统一测试模型，分析了嵌入式软件测试的特点，并对国内 外流行的嵌入式软件系统测试种类以及测试方法进行了研究。同时，本文还探讨了嵌入 式软件安全性评估标准CC ( Common Criteria，通用标准)规范中对于测试方面的要求， 这些都为硬件驱动层系统测试方法的研究奠定了理论基