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1 1 测量系统分析MSA 第 三 版 目 录 通用测量系统指南 测量系统评定的通用概念 简单测量系统推荐的实践 计量型测量系统研究指南 计数型测量系统研究指南 第一章：通用测量系统指南 在SPC手册中已经涉及到测量系统，测量数据的质量是过程控制的基础。正确的选择与运用测量系统，能保证以较低的成本获得高质量的测量数据。 MSA参考手册的目的 为评定测量系统的质量提供指南； 主要关注的是对每个零件能重复读数的测量系统； 测量系统分析方法需要顾客批准，本手册没覆盖。 1.1 几个重要概念 测量：赋值(或数)给具体事物以表示它们之间关于特性的关系。 赋值过程为测量过程，而赋予的值为测量值。 量具：任何用来获得测量结果的装置，经常指用在车间的装置，包括通过/不通过装置。 测量系统：用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合，用来获得测量结果的整个过程。 1.1 几个重要概念 测量数据用途： 过程调整； 确定在两个或更多变量之间是否存在重要关系。 测量数据的质量 由(在稳定条件下运行的)某一测量系统多次测量结果得到的统计特性确定。 其测量数据与其标准值比较,而确定其质量“高”/“低”。 测量数据的质量最常用偏倚和方差来表示。理想是零偏倚、零方差。 “低”的通常原因之一是数据变差太大，这是由于测量系统和它的环境之间的交互作用造成的。 管理一个测量系统是监视和控制变差，以使测量系统产生可接受的数据。 真值： 零件的“实际”测量值。未知的和不可知的，但它是测量过程的目的，一般使用“基准值”代替。 1.1 几个重要概念 朔源性：测量的特性/标准值是规定的基准，通常是国家/国际标准，通过全部规定了不确定度的不间断的比较链相联系。 不确定度：关于测量值估计范围，相信真值包括在其内。 1.2 测量过程 测量过程可用下图表示： 通 用 过 程 1.2.1 测量系统的统计特性 一个能产生“理想”的测量结果的测量系统的统计特性： ?零方差； ?零偏倚； ?对所测的任何产品错误分类为零概率。 这种理想统计特性的测量系统几乎不存在。 现时中测量系统应具备的统计特性： 足够的分辨率和灵敏性 测量系统应该是统计受控。 统计受控，即统计稳定性：在可重复条件下，测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成的。 1.2.1 测量系统的统计特性 对于产品控制，测量系统的变异性小于公差； 对于过程控制，测量系统的变异性应该显示有效分辨率并且小于制造过程变差。 有效分辨率 对于一个特定的应用，测量系统对过程变差的灵敏性； 产生有用的测量输出信号的最小输入值； 总是以一个测量单位报告。 测量系统的统计特性可能随被测的项目变化而改变，则测量系统的最大的（最坏）变差应小于过程变差和规范控制限两者中较小者。 1.2.2 变 差 源 测量系统受随机和系统变差源影响。这些变差源由 普通原因和特殊原因造成，为此应： ? 识别潜在的变差源； ? 排除(可能时)或监控这些变差源。 识别变差源的工具，如因果图、故障树图等。 测量系统误差的主要要素：S(标准)、W(工件)、I(仪器)、P(人/程序)、E(环境)。 实际的变差对一个特定的测量系统的影响是唯一的。 图2 为一张潜在的变差源因果图，可作为研究测量系统变差源思考的起点。 图1.2-2 测量系统变异性—因果图 1.2.3 测量系统变异性的影响 测量系统误差：所有变差源的累积影响构成了测量系统的输出值，有时称为“误差”。 测量系统的变异性影响被测对象的测量结果，因此相同零件的重复读数产生不同或相同的结果。 读数之间不同是由于普通和特殊原因造成的。 对不同变差源的影响应经过短期和长期评估： 测量系统的能力是短期时间的测量系统（随机）误差。由线性、一致性、重复性和再现性误差合成的定量值； 测量系统的性能是所有变差源随时间的影响。通过确定过程是否受控，对准目标(无偏倚)，且在预期结果的范围有可接受的变差(量具GRR)。 1.2.3.1 对决策的影响 测量零件后的活动之一是确定零件的状态： 一种是确定零件可接受(在公差内)/不可接受(在公差外)； 另一种是把零件进行规定的分类：合格品的分级； 进一步分类可能是可返工的、可返修的或报废的。 按产品控制原理，这样的分类是测量零件的主要原因-零件是否在明确的目录之内。 按过程控制原理，焦点是零件变差，是由过程中的普通原因还是特殊原因造成的。 控制原理和驱动兴趣点 1.2.3.2 对产品决策的影响 取决于测量系统误差：零件重复读数所有变差受量具的重复性和再现性影响。