浅谈利用tofd二次波检测近扫查面缺陷.pdfVIP

浅谈利用TOFD二次波检测近扫查面缺陷 天津诚信达金属检测技术有限公司 孙忠波 摘 要：在TOFD检测过程中，由于直通波宽度而产生的近扫查面盲区是在常规TOFD检测 中不可避免的，为解决此问题，本文在工件表面加工出已知深度的缺陷，以常规TOFD操作 以及TOFD二次波分别进行扫查，经对比两种扫查方式得到的TOFD图像可见：对于该近扫 查面的缺陷利用TOFD常规操作扫查极易漏检且无法定量，而利用二次波的扫查方式得到的 图像能够显著分辨出缺陷并能精确定量。因此在常规TOFD检测中附加此方法可保证近扫查 面缺陷不漏检。 关键词： TOFD； 二次波； 盲区 一、前言 中 h 国 TOFD技术是一种基于超声时差衍射的技术，相对常规超声检测（即脉冲回波）技术其 t 可靠性和精度要高，目前该TOFD技术作为一种标准的检测技术在锅炉和压力容器行业得到 t 特 广泛的应用，同时也得到了ASME 2235，ASTM E2373-04，CEN ENV 583-6，BS7706等标准的 p 种 : 认可。现今世界上有很多无损检测设备制造商开发了很多数字化的无损检测系统可以满足 上述标准进行TOFD检测。 / 设 / 备 w TOFD检测方法的优点是对与焊缝中部缺陷检出率高；容易检出方向性不好的缺陷；可 【1】 w 检 以识别向表面延伸的缺陷 。 w 但TOFD检测也存在着一定的局限性，由于直通波和底波同样有一定的时间宽度，在该 . 验 时间宽度的深度范围内的缺陷信号会被淹没在直通波或者底波中，这就是TOFD的表面盲区， t 网 e 在此范围内存在对缺陷的方向性不敏感，对缺陷的定性困难等。 j 本文着重介绍表面盲区产生的原因，以及利用二次波技术检测扫查面盲区内的缺陷的 可行性。 i 二、扫查面盲区和底面盲区的产生原因 a n 1．扫查面盲区探讨 . o 由于直通波的宽度，近扫查面内部缺陷的信号可能隐藏在直通波信号之下，因此相当 r 于直通波信号的深度是一个盲区，如果声速为c，探头中心间距（PCS）为2s，直通波传输 g 的时间是TL（=2s/c）,直通波脉冲时间宽度为TpL可从振幅的10%处截取得到，经推导扫查面