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磁粉检测设备及检测工艺 主讲：杨胜岳 专业级别：RT-Ⅲ UT-Ⅲ MT-Ⅲ PT-Ⅲ 第五章 磁粉检测设备 5．1磁粉检测设备的命名方法 ★5．2磁粉检测设备的分类 按设备的组合方式分为： 一体型磁探仪：将设备的各个功能部件组合成一个不可分割的整体。 分立型磁探仪：将各部分按功能制成单独分立的装置，使用时组合成系统。 按设备的重量和可移动性分为： 5．1．1固定式探伤机：属一体型磁探仪，可进行通电法、中心导体法、感应电流法、线圈法、磁轭法磁化。 5．1．2移动式探伤机：属分立型磁探仪，可进行触头法、夹钳通电法、线圈法磁化。 5．1．3便携式探伤机：属分立型磁探仪，可进行线圈法、磁轭法磁化。 ★5．3磁粉检测设备的组成部分 1.磁化电源：产生磁场，磁化工件。 2.工件夹持装置：电动、手动或气动的磁化夹头或触头，夹头间距可调，以适应不同规格的工件。夹头上应包上铜编织网，防止打火和烧伤工件。便携式探伤机不需要夹持装置。 3.指示和控制装置；指示装置是指示磁化电流大小的仪表和有关工作状态的指示灯；控制装置是控制磁化电流产生和使用过程的电器装置的组合。 4.磁粉和磁悬液施加装置 5.照明装置：包括日光灯和黑光灯。 ★非荧光磁粉检测时，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。 荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～nm的范围内，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。 6.退磁装置：应保证被磁化工件上的剩磁不影响工件的使用。 5．4常用典型设备 交、直流磁轭探伤仪、旋转磁场探伤仪等。 5．5测量仪器 ★毫特斯拉计（高斯计）：利用霍尔效应来测量磁场强度的仪器。 霍尔效应：当电流垂直于外加磁场方向通过半导体时，在垂直于电流和磁场方向的物体两侧产生电势差的现象。 ★袖珍式磁强计：利用力矩原理来快速测量工件剩磁的工具。不能用于测量强磁场，也不能放入强磁场区，以防影响其精度。 ★照度计：用于测量被检工件表面的可见光照度。 ★黑光辐照计：用于测量波长为320-400nm，峰值波长为365nm的黑光辐照度。 ★通电时间测量器：用于测量通电磁化时间。 ★弱磁场测量仪：用于测量工件退磁后，剩磁要求极小的场合。 ★快速断电试验器：用于检测三相全波整流电磁化线圈有无快速断电效应。★磁粉吸附仪：用于测试磁粉的磁吸附性能，表征磁粉的磁特性和磁导率大小。 第六章 磁粉检测工艺 磁粉检测工艺就是包括检测前的预处理、选择磁化方法、磁化规范和检测时机、施加磁粉或磁悬液（连续法、剩磁法）、磁痕分析或复验、评定验收、后处理（退磁）。 JB/T4730-2005磁粉检测程序作了相应的规定 磁粉检测程序如下： 预处理； 磁化； 施加磁粉或磁悬液； 磁痕的观察与记录； 缺陷评级； 退磁； 后处理。 同时JB/T4730-2005对磁粉检测方法也作了如下表的分类 分 类 条 件 磁粉检测方法 施加磁粉的载体 干法（荧光、非荧光）、湿法（荧光、非荧光） 施加磁粉的时机 连续法、剩磁法 磁化方法 轴向通电法、触头法、线圈法、磁轭法、中心导体法、交叉磁轭法 下面就检测程序和磁粉检测方法作简单讲解。 6．1预处理及工序安排 6．1．1预处理 1．清除：被检工件表面不得有油脂、铁锈、氧化皮或其它粘附磁粉的物质。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的修理。如打磨，则打磨后被检工件的表面粗糙度Ra≤25μm。如果被检工件表面残留有涂层，当涂层厚度均匀不超过0.05mm，且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。 采用轴向通电法和触头法磁化时，为了防止电弧烧伤工件表面和提高导电性能，应将工件和电极接触部分清除干净，必要时应在电极上安装接触垫。 ★2．分解：装配件一般要分解后再进行检测。因为： a.装配件的形状和结构一般都比较复杂，磁化和退磁困难； b.分解后检测容易操作； c.装配件动作面（如滚珠轴承）流进磁悬液后难以清洗，会造成磨损； d.分解后能观察到所有检测面； e.交界处可能产生漏磁场形成磁痕显示，容易与缺陷的磁痕显示相混淆（xiao）. 3．封堵：若工件有盲孔和内腔，磁悬液流进后难以清洗时，检测前应将孔洞用非研磨性材料封堵上。； 4．反差增强剂：如果磁粉与工件表面颜色的对比度小，或工件表面过于粗糙而影响磁痕显示时，为了提高对比度，可以使用反差增强剂。 6．1．2工序安排 1）磁粉检测时机应安排在容易产生缺陷的各道工序（如焊接、热处理、机加工、磨削、锻造、矫正和加载试验）之后进行，在表面处理之前进行； 2）被检验的材料有延迟裂纹倾向的磁粉检测应在焊后2