X线头影测量学解说.pptVIP

X线头影测量学（Cephalometry) 四川大学华西口腔医院 正畸教研室 定 义 X线头影测量是对标准化定位的X线片所得的软硬组织影像进行定量的测量分析，从而了解牙合颅面软硬组织的结构，使对牙合颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。 应 用 研究颅面生长发育 牙合颅面畸形的诊断分析 确定错合畸形的矫治设计 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态结构变化 外科正畸预测手术及矫治效果 下颌功能分析 X线头颅定位照相和头影图的描绘 1.头颅定位X线照相 头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成与地面平行的平面 自然头位法 2.头影图的描绘 描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬质尖锐的铅笔等 注意： 当左右影像不完全重合时，应取其平均中点来做描绘 常用标志点及测量平面 一.颅部标志点（5个） 鼻根点（N）：鼻额缝的最前点 蝶鞍点（S）：蝶鞍影像的中心点 颅部标志点（5个） 耳点（Po）： 机械耳点---定位仪耳塞影像的最上点 解剖耳点---骨性外耳道影像的最上点 颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘中点 Bolton点（Bo）：枕骨髁突后切迹之最凹点 二.上颌标志点（6个） 眶点（Or）：眶下缘最下点 翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂影像的最下点 前鼻棘点（ANS）：前