工业水浸超声探伤背景知识.pptVIP

在实际测试中，贝尔的单位太大，常用其 １／１０（ｄB）分贝 １０lｇ（Ｉ1／Ｉ2）分贝 =20lg(P1/P2)dB 在超声波探伤中常用（ｄB）－－－分贝表示回波高度 ＩL＝２０Ｌｇ（ｈ／ｈ。） 不同声压比（或回波比）的分贝值换算表 ｈ／ｈ。 10 5 3.2 2 1.1 1 ｄB 20 14 10 6 1 0 ｈ／ｈ。 1 1/1.1 1/2 1/3.2 1/5 1/10 ｄB 0 -1 -6 -10 -14 -20 第五节 超声场的结构 １、声场 晶片的振动通过耦合剂使试件表振动，晶片为辐射器，辐射器是由无数个能发射声波的子波源组成，这些子波源相互叠加的结果就是辐射器的声场。在声源的中心轴线上声压最大，偏离中心轴线时声压逐渐减少，形成声波的主瓣（主声束）。（资料来源：安赛斯（中国）有限公司） ２、探头的指向性 探头的指向性用半扩散角θ表示，它取于声波的波长（λ）及晶片直径Ｄ，其关系是： sｉｎθ＝１. ２２λ/Ｄ θ＝ａｒｃＳｉｎ１.２２λ/Ｄ(弧度) ≈７０λ/Ｄ(角度) 对于边长为ａ的方晶片，则： θ＝ａｒｃsｉｎ１.２２λ/ａ ≈７０λ/ａ 频率不同，波长亦不同；Ｄ不同，扩散角θ亦不同；半扩散角θ与频率及探头直径成反比，而与波长成正比。扩散角θ的大小应该适当的控制。 ３、远距离声场和近距离声场 我们用N0来表示近距离声场（即近场 区），大于N0为远场区，在N0以内声场 变化复杂，不利于探伤；N0以外声压随着 距离的增加而有规律地减少；在1.6N。 以外，距离每增加一倍，声压就降低一半。 N可以用下式计算： Ｘ0＝Ｄ2/４λ 或 N0＝a2/λ (a为晶片半径) （资料来源：安赛斯（中国）有限公司） 第六节 超声波的发散与聚焦 超声波在通过一个比波长大得多的曲面时，则超声波从第一介质到第二介质时会产生发散与聚焦现象，它主要取决于曲面凹凸形状及界面两侧介质声速C1和C2的差值。（资料来源：安赛斯（中国）有限公司） 图A　凹面 Ｃ１＜Ｃ２　　　　图Ｂ凹面 Ｃ１＞Ｃ２ 　　　聚焦　　　　　　　　发散 　　 图Ｃ凸面 Ｃ１＞Ｃ２　　　　图Ｄ凸面 Ｃ１＜Ｃ２ 　　　聚焦　　　　　　　　发散 第七节 超声波在传播时的散射、绕射和衰减 １、超声波在传播过程中的散射 超声波在传播过程遇到障碍物时，声波要发生反射与折射等现象。当障碍物的形状不规则时，声波的反射与折射也没有规律，这种现象称为散射。这种散射现象使超声波的穿透能力大为降低，并造成荧光屏上产生草状的干扰信号，影响探伤效果，严重时无法探伤。（资料来源：安赛斯（中国）有限公司） ２、超声波在传播时的绕射 超声波在传播过程遇到障碍物时，声波除发生反射、折射、散射和吸收外，还会产生绕射现象。绕射现象取决于障碍物的大小及声波的波长大小；当波长远远大于晶粒尺寸而又小于缺陷时，则超声波的穿透性能好，反之则差。 ３、超声波在传播时的衰减 超声波在介质中传播时，其能量随着传播距离的增加而减弱，即为超声波的衰减。 实验证明： １）传播的距离越长，衰减越大； ２）超声波的频率越高，衰减越大； ３）介质的晶粒组织越粗大，衰减越大。 超声波的散射、绕射和衰减限制了探伤，有些材质为了提高探伤灵敏度，需要提高探伤频率；晶粒粗大的材质，则须要降低频率。探伤时，可根据不同的材质、声程选择合适的频率。（资料来源：安赛斯（中国）有限公司） 衰减系数计算公式： α= = ( V n- m-(20lg n/ m) )/(2T(n-m)) 式中： T——工件厚度（m m）； n/ m——波次（nm ） V n- m——表示工件第m次与第n次底面回波差(dB) α——表示工件单程衰减系数 例题 一工件厚60mm，第3次底波比第5次底波高8dB，求工件材质的衰减系数。 解：α=( V n- m-(20lg n/ m) )/(2T(n-m)) =(8-20lg5/3)/(2×60×(5-3)) =3.56/240=0.01485 dB/ mm, 这时，我们可先将超声波探伤仪衰减器放置在30dB处，然后将探头放到标准试块上，调节仪器灵敏度旋钮，使Φ３平底孔反射波高度达到荧光屏满幅度的８０％，再将衰减器释放１５ｄB，这时