质谱在中的应用论述.ppt

质谱分析在材料研究中的应用 主要内容 1.概论 2.目前应用情况 3.质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 3.1.合成材料的单体、中间体以及添加剂的分析 3.2.聚合物结构的表征 4.结论 5.参考文献 1.概论 质谱法：质谱法(mass spectrometry)是通过对被测试样离子的质荷比进行测定的一种分析方法。被分析试样首先要离子化，然后利用不同离子在电场或磁场中运动行为不同，把离子按质荷比(m/z)分离而得到质谱，通过试样的质谱和相关信息，可以得到试样定性定量结果。 1.概论 第一台质谱仪是英国科学家弗朗西斯·阿斯顿于1919年制成的。阿斯顿用这台装置发现了多种元素同位素，研究了53个非放射性元素，发现了天然存在的287种核素中的212种，第一次证明原子质量亏损。他为此荣获1922年诺贝尔化学奖。 1.概论 质谱法涉及学科范围和应用领域很广，基于研究对象、仪器结构、原理和技术、应用等不同，分类也不同。 1.概论 原子质谱和分子质谱在仪器结构上基本相似，都由离子源、质量分析器、检测器组成，两者只是离子源不同。 1.概论 质谱谱图分析步骤： 1、相对分子量的确定 通过分子离子峰进行确定M： 选择合适的离子源，提高分子离子峰的强度 分子离子峰的确定: N规律，丢失是否合理。 2、分子式的确定 高分辨率质谱仪确定分子式：M推出可能是什么。 由同位素比求分子式。根据IM+1: IM和IM+2: IM，由拜诺表查出可能的分子式，根据氮律排除，然后结合碎片离子峰或其他定性方法共同定性。 若含有S、Br、Cl， IM+2: IM,先从分子量－X，再从拜诺表查相应的经验式。 1.概论 若含有S、Br、Cl， IM+2: IM,先从分子量－X，再从拜诺表查相应的经验式。 3、结构的鉴定 分子离子和碎片离子的m/e及相差多少，判断可能发生的断裂并结合其他定性。 2.目前应用情况 FD-MS:将样品涂布在表面经活化有微探针的发射丝上，在离子源内，发射丝通弱电流，样品分子从发射体上获得能量并解析，扩散到高场强的的发射区进行离子化。 FD通常得到分子离子峰 由于多余的能量很少，所以碎片离子峰非常少 不需要样品气化，特别适用于难气化和热稳定性差的固体样品的分析 由于不用基质，几乎没有背景干扰 2.目前应用情况 EI-MS:电子轰击电离是质谱中用途最广泛的离子化方法。 用约70eV的电子束轰击气化的样品分子，使其获能。由于有机化合物的电离能一般小于15eV，分子离子具有剩余的能量，可使某些化学键断裂，生成不同质荷比的带正电荷的碎片离子。化合物共价键的断裂具有可重复性和化合物的特征性，可以作为用质谱解释化合物结构的有力依据。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 3.1.合成材料的单体、中间体以及添加剂的分析 利用材料中未反应的单体、中间体以及添加助剂在高真空和加温的质谱电离室中会有部分程度的挥发的性质，可将它们从材料分离出来，并直接得到不同低分子量化合物的质谱图。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 例1 为确定某未知物的结构，只得到如下质谱图，试确定该化合物的结构。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 解析过程如下： 1）未知物分子的分子离子峰应为 100，从分子离子断下来的最小碎片离子的质量数为 15; 2）由于同位素峰很弱，所以化合物中没有 Cl、Br、S 等元素存在。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 3）M、M+1 和 M+2 峰的相对强度无法精确测量，因此，除了估计未知物的分子不含氮或含偶数个氮原子以外，无法按通常的方法确定分子式。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 4）由于质谱图中大部分离子的质量数为奇数，联系相对分子质量为偶数这一事实，估计该未知物分子不含氮原子。如果确是这样，则 82 和 54 的 2 个碎片离子是奇电子碎片离子，并且后者只能是 [C3H2O] 或 [C4H6]。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 5）前 5 个从分子离子断下的较大碎片，它们的质量分别是 15、17、18、45 和 46，如果未知物分子不含氮，则前 3 个碎片为 -CH3、HO- 和 H2O。质量 45 的碎片为17 和 28 组成，几乎可以肯定是 HO + CO，即未知物含有羧基。 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 M-15、M-17、M-18、M-45 和 M-46 -CH3、HO- 和 H2O 3. 质谱分析在材料反应单体和助剂分析中的应用 6）低质量的碎片离子有 29、39、41、54 和 55，因为未知物不合氮，故 M/z 39 的碎片离子必定是C3H3+，并且 M