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图形化衬底(PSS)

图形化衬底(PSS)刻蚀设备工艺研究进展  时间:2012-02-28  【字体: HYPERLINK javascript:fontZoom(16) 大? HYPERLINK javascript:fontZoom(14) 中? HYPERLINK javascript:fontZoom(12) 小】 ??? 蓝宝石晶片目前广泛用作III-V族 HYPERLINK / LED器件氮化物外延薄膜的衬底,然而由于氮化物和蓝宝石大的晶格失配和热膨胀系数的差别,使得在衬底上生长的氮化物材料位错和缺陷密度较大,影响了器件的发光效率和寿命。图形化衬底(PSS)技术可以有效地减少外延材料的位错和缺陷,在氮化物器件制备中得到了广泛的应用。但是由于蓝宝石具有稳定的化学和物理性质,使得很难进行刻蚀和图形化制作。本文采用由北方微电子公司开发的 HYPERLINK /EL.htm ELEDE?330高密度等离子体ICP刻蚀机对PSS刻蚀工艺进行了研究,通过对刻蚀速率、选择比以及不同图形的刻蚀分析,取得了比较满意的工艺结果。   一、简介   PSS(Patterned Sapphire Substrate),也就是在蓝宝石衬底上生长干法刻蚀用掩膜,用标准的光刻工艺将掩膜刻出图形,利用ICP刻蚀技术刻蚀蓝宝石,并去掉掩膜,再在其上生长GaN材料,使GaN材料的纵向外延变为横向外延。一方面可以有效减少GaN外延材料的位错密度,从而减小有源区的非辐射复合,减小反向漏电流,提高LED的寿命;另一方面有源区发出的光,经GaN和蓝宝石衬底界面多次散射,改变了全反射光的出射角,增加了倒装LED的光从蓝宝石衬底出射的几率,从而提高了光的提取效率。综合这两方面的原因,使PSS上生长的LED的出射光亮度比传统的LED大大提高,同时反向漏电流减小,LED的寿命也得到了延长。   随着LED领域工艺技术的发展,以及整个LED行业的迅速壮大,对GaN基LED器件PSS衬底的研究也逐渐增多。如今各厂家纷纷采用PSS技术,以提高LED器件的光提取效率。PSS的图形种类也较多,目前使用比较普遍的一种形貌类似圆锥形的图形,图形周期约为3μm,高度约为1.5μm。本文主要针对这种图形做了一些刻蚀工艺研究,并根据刻蚀研究结果进行趋势性分析,同时也得到了一些其他图形的刻蚀结果。   二、刻蚀设备及机理   图1是PSS刻蚀研究使用ELEDE?330高密度等离子体ICP刻蚀系统示意图,它可进行蓝宝石衬底图形化刻蚀、Si衬底刻蚀以及GaN基外延层刻蚀等LED领域所有刻蚀应用。有优秀的刻蚀均匀性控制,保证大批量生产时的片间均匀性和工艺重复性,一次可完成27片2英寸GaN基外延层刻蚀或22片2英寸蓝宝石衬底刻蚀。系统集成了高密度等离子体源、高寿命机械卡盘、精密的腔室温度控制系统、稳定的高精度压力控制系统、IC标准的中央喷嘴进气系统及IC级别的腔室表面处理等多项先进技术,用IC刻蚀工艺更为精密的设计要求来实现LED领域更高性能的刻蚀工艺,以更大程度地提高 HYPERLINK /Waferchip.htm LED芯片的发光效率。   该刻蚀机由工艺腔、传输腔、气体控制盒、射频系统、真空系统、温控系统以及装载模块(选配)等部分组成。其中上下电极采用13.56MHz、1500W射频功率,托盘尺寸为330mm,PSS刻蚀使用Al托盘,上面覆盖石英盖板,可装载22片2英寸蓝宝石衬底片。LED刻蚀深度较深,刻蚀速率较慢,刻蚀时间较长(10~30min),考虑到PR的挥发、刻蚀均匀性以及刻蚀过程中等离子体轰击产生的热量去除,对下电极散热能力要求较高,工艺中基座温度一般设置为-10~-20℃。LED刻蚀副产物的沸点较高,很难被去除,所以LED刻蚀设备的腔室及内衬需要加热,以减少刻蚀副产物的沉积。   图1 ELEDE?330高密度等离子体ICP刻蚀系统示意图   由于蓝宝石(Al2O3)的Al-O键键能较大,所以该化合物很难被刻蚀。因此物理轰击起至关重要的作用,并直接影响刻蚀速率。另外由于Ga、Al氟化物的沸点较高,所以一般采用Cl进行LED刻蚀。PSS刻蚀中采用的主刻蚀气体为BCl3,BCl3分解后产生的Cl可以和Al2O3发生化学反应,并且BClx对Al-O键的轰击作用也比较强,其刻蚀机理如下式所述:   BCl3 → BClx + Cl (x=0,1,2)   Al2O3 + BCl3 → Al + BOCly + Cl (y=1,2,3)   Al2O3 + BClx → Al + BOClz + Cl (z=1,2,3)   Cl + Al → AlCl3   三、PSS刻蚀工艺   根据ELEDE?330高密度等离子体ICP刻蚀系统的特点,PSS刻蚀工艺主要对以下

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