仪器的测量原理.doc

仪器的测量原理 唯一采用回归分析专用技术的测量原理 不同物质对X射线具有不同的射线吸收率，所以X射线对电缆进行扫描时，X射线进入不同的胶层吸收率曲线将会发生改变，出现拐点；系统分析计算不同拐点的距离，从而得出各胶层的壁厚、偏心值和外径、椭圆度。 西科拉的专有技术，是对扫描曲线进行回归分析,必须不同胶层又不同的射线吸收率，才能分辨不同的层！ 采用双接收器技术，电缆的轻微抖动对检测不产生影响 被测电缆的抖动（震颤）是造成检测误差的重要原因，据我们所知，由于不能克服这一问题，曾有类似仪器被一家用户退还制造商的情况发生。为了消除电缆震颤造成的检测误差，西科拉的X-RAY 8000系统采用了“双接收器技术”（就如军用雷达上使用的测距技术），让同一光源、同一被测物、同一时间里在两个接收器上产生两套检测信号，根据这两套信号之间的关系计算出在一次检测时间内被测物的位置变化，从而对由位置变化造成的检测误差进行补偿。这种技术应用于军事目的已有相当时间。技术的关键是“三同”（同一光源、同一被测物、同一时间）。 西科拉的X-RAY 8000的每一个扫描器上均有两个接收器，而射线束经过精心调校的宽度恰好覆盖这两个接收器，从而满足“同一光源、同一被测物、同一时间”形成两套信号的要求。