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材料现代分析方法 材料化工学院 第四章 材料现代分析方法概述 §4.1 一 般 原 理 §4.2 衍射分析方法概述 §4.3 光谱分析方法概述（略） §4.4 电子能谱分析方法概述（略） §4.5 电子显微分析方法概述 §4.6 色谱、质谱及电化学分析方法概述（略） §4.1 一 般 原 理 1、定义： 关于材料成分、结构、微观形貌与缺陷等的现代分析、测试技术及其有关理论基础的科学。 2、基本原理： 通过对表征材料性质参数及其变化（测量信号或特征信息）的检测实现的。 即测量信号?材料成分、结构等的特征关系。 不同的测量信号?不同的材料分析方法。 3、分类： (1) 电磁辐射及运动粒子束与物质相互作用: 光谱分析、电子能谱分析、衍射分析与电子显微分析等。 (2)其它物理性质或电化学性质与物质相互作用: 色谱分析、质谱分析、电化学分析及热分析等。 §4.1 一 般 原 理 4、共性： (1)检测过程大体分为信号发生、信号检测、信号处理及信号读出等。 (2)分析仪器为信号发生器、检测器、信号处理器与读出装置等。 发生器使样品产生(原始)分析信号； 检测器将此信号转换为易于测量的信号并加以检测； 处理器放大、运算、比较被检测信号； 读出装置将信号转变为可被人读出的信号， 然后记录或显示出来。 (3)依据检测信号与材料的特征关系， 分析、处理读出信号，即可实现材料分析的目的． §4.2 衍射分析方法概述 基本目的： 分析材料结构； 技术基础： 电磁辐射或运动电子束、中子束等与材料相互作用 产生相干散射(弹性散射)， 相干散射相长干涉的结果——衍射 是材料衍射分析方法的技术基础 分类： X射线衍射分析、 电子衍射分析、 中子衍射分析等。 §4.2 衍射分析方法概述 一、x射线衍射分析 1、x射线照射晶体 ?晶体中电子产生相干散射 ?同一原子内各电子散射波 相互干涉形成原子散射波 ?各原子散射波相互干涉， 在某些方向上一致加强 ?形成了晶体的衍射波(线)。 2、衍射方向和衍射强度 ?材料结构分析的两个基本特征． 3、多晶体x射线衍射分析基本方法 衍射仪法与(粉末)照相法。 4、单晶体x射线衍射分析基本方法 劳埃法与周转晶体法。 5、四圆衍射仪 §4.2 衍射分析方法概述 §4.2 衍射分析方法概述 二、电子衍射分析 1、电子照射样品 ?入射电子被样品中各个原子弹性散射 ?电子(束)相互干涉， ?在某些方向上一致加强， ?形成了样品的电子衍射波(束)． 2、依据入射电子的能量大小， 分为高能电子衍射和低能电子衍射。 3、依据电子束是否穿透样品， 分为透射式电子衍射与反射式电子衍射。 §4.2 衍射分析方法概述 §4.2 衍射分析方法概述 §4.5 电子显微分析方法概述 1、定义： 基于电子束(波)与材料的相互作用 而建立的各种材料现代分析方法。 2、种类： 光谱分析中的电子探针、 能谱分析中的电子激发俄歇能谱、 衍射分析中的电子衍射; 透射电子显微(镜)分析； 扫描电子显微(镜)等 。 3、基本目的： 微观形貌、结构与成分分析. §4.5 电子显微分析方法概述 *