实验一门电路的逻辑功能测试.docVIP

河南工程学院学生实验报告 系别 课程名称 电工电子技术 班级 实验名称 实验一 门电路的逻辑功能测试 姓名 实验时间 学号 指导教师 栗科峰 报 告 内 容 一、实验目的和任务 1、测试TTL集成芯片中的的逻辑功能。了解测试的方法与测试的原理。 74LS86 二输入端四异或门 三、实验内容和数据记录 依次选用芯片74LS00、74LS86做实验，在实验箱IC插座模块找到相应管脚数目的IC插座，插上并保持连接正常。 对照相应芯片引脚图，按照芯片的管脚分布图接线，注意确保电源VCC（+5V）输入脚和地输入脚的连接，芯片输入端连接到逻辑电平输出单元，通过逻辑电平输出单元控制输入电平，当逻辑输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。芯片输出端连接到逻辑电平显示单元，输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。分别列出芯片74LS00、74LS86的真值表。 按照芯片各逻辑门的真值表检验芯片的逻辑功能 A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 与非门74LS00逻辑表达式： 异或门74LS86 A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 异或门74LS86逻辑表达式： 四、实验结论与心得 成绩 教师签名 批改时间 年 月 日