材料测试方法提纲.docxVIP

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  • 2016-08-23 发布于浙江
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材料测试方法提纲

材料测试方法第一章晶体基础知识一名词解释晶体晶面指数晶面间距晶胞晶带干涉面衍射指数晶体:是有明确衍射图案的固体,由质点(原子、分子或离子)在三维空间中按一定规律作格子状周期性重复排列而成,形成具有格子构造的固体。在整个晶体内部,各类质点都按照一定方式以一定距离有序排列,形成所谓“长程有序”结构。晶面指数:若离坐标原点最近的晶面在晶轴上的截距分别a/h,b/k,c/l为,则用(hkl)表示这组晶面,称为晶面指数或密勒指数。晶面间距:一组指数为(hkl)的晶面是以等间距排列的,称这个间距为晶面间距,用dhkl表示晶胞:点阵中取出的一个反映点阵对称性的代表性基本单元(通常取最小平行六面体)。晶带:在晶体中平行于同一晶向[uvw]的所有晶面(hkl)定义为一个晶带干涉面衍射指数二计算作图题: 1某正交晶体的a=7.417nm, b=4.945nm, c=2.547nm, 计算d110和d200。解:根据正交晶系晶面间距的公式可得:d110=4.114nm, d200=3.709nm 2 请画出(2 3 1)和(2 3 4)晶面,并求出它们的晶带轴方向。解:(hkl)晶面在坐标轴上的截距分别为a/h,b/k,c/l,取a、b、c为单位值,则(2 3 1)的截距分别为-1/2,1/3和1,利用最小公倍数求其整数,变为-3,2,6。确定坐标轴方位,画出晶面(图1)。同理可画出(

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