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第7章 故障诊断 第7章 测试与可测性设计 测试与故障诊断的概念 测试码自动生成 ATPG (Automatic test pattern generation) 敏化路径法求组合电路测试码 D算法: 基于故障传播路径的方法 布尔差分法: 基于逻辑表达式的方法 多故障的测试码生成 时序电路的测试码生成 可测性设计 DFT (Design for test) 一. 测试与故障诊断的概念 故障（fault) 故障检测（fault detection）： 判断故障是否存在； 故障诊断（fault diagnosis）或故障定位（fault isolation）： 故障是否存在 + 故障发生位置; CAD内容 测试码自动生成(ATPG), Automatic Test Pattern Generation 测试码序列的长度尽量短； 能发现的故障尽量多； 生成测试码的代价（CPU时间、存储空间）尽量低； 故障模拟 Fault Simulation 可测性设计(DFT), Design for Test 在正常情况下难以完成测试任务的时候，在设计中加入辅助电路使测试任务得以完成。 辅助电路尽量少。 故障模型 固定故障 Stuck-at-0/1 fault 永久故障 桥接故障 Bridge fault 其他故障 单故障, 多故障 单固定故障 Stuck-at-1 固定1故障 (s-a-1) Stuck-at-0 固定0故障 (s-a-0) 故障部位：外部输入/出端，各元件输入/出端， 连线、线网各支路。 简化模型：外部输入+各元件输出 (各线网当作一个点) 测试与测试集 测试集 S={T1, T2, T3, T4} T1={(0,0);(0,1)} c/0, d/1, e/1, f/0 T2={(0,1);(0,1)} a/1, c/0, d/1, e/1, f/0 T3={(1,0);(0,1)} b/1, c/0, d/1, e/1, f/0 T4={(1,1);(1,1)} a/0, b/0, c/1, d/1, e/0, f/0 d/0, f/1 不可测, 称为冗余故障 故障表 支配故障 支配故障：设能够检查故障α和β的测试集分别为Sα和 Sβ，且Sα包含 Sβ，则称故障α支配故障β，记做α=β或者β=α。 故障α支配故障 β意味着能够检测出β的测试向量一定能检测出α 。能够检测α的测试向量不一定能检测出β。 等价故障 如果 Sα包含 Sβ，且Sβ包含Sα，则称故障α和β是等价的，记为α?β 等价故障是不可区分的；不等价的故障是可区分的。 如果一个元件的某一输入值能唯一得出输出值（相同或者相反），这两个点上的故障（相同或者相反）就是等价故障。——蕴涵 代表故障 在求测试集时，对等价故障，只要对其中某一个故障求测试即可，称为代表故障。 测试的包含与等价测试 测试Ti可检测出故障Fi＝{f1,f2,。。fn}，称测试Ti覆盖Fi 设Ti覆盖Fi ， Tj覆盖Fj ， 若Fi包含Fj ，则称Ti包含Tj。如果Fi＝Fj，称Ti与Tj等价。 等价测试选中一个即可。 故障诊断测试集 故障检测测试集 代表故障表 故障诊断测试集T 故障检测测试集T 故障检测测试集 ? 故障诊断测试集 有关冗余故障的结论 出现冗余故障的原因是电路中存在冗余逻辑； 非冗余电路的任何逻辑故障皆可测； 能将所有非冗余故障检测出来的测试集称为完备测试集。 求出完备测试集是我们的最高目标 测试向量与测试序列 测试向量：对每个输入端的取值组成的向量 测试序列：测试向量的序列 组合电路故障只需要一个向量 有的故障需要多个向量T={(1,0), (0,0); (1,0),(1,0)} (若只有(0,0)， 则z1z2=(0,1) 或(1,0), 不能单独作为测试。) 测试集做成序列 覆盖的故障数要满足要求 序列优化：尽量减少向量数 测试长度 测试序列中向量个数 测试码生成问题 测试生成 测试码自动生成 (ATPG– Automatic Test pattern Generation) 满足故障覆盖率要求 容易生成 故障模拟 判断一个输入向量或序列是否为测试码 判断测试集的故障覆盖率 故障覆盖率 = 已测故障数 /