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编号：100550241000 本 科 毕 业 论 文 题 目：基于Multisim10的电路可靠性研究 学 院：物理与电子信息学院 专 业：电子信息科学与技术 年　　级：20** 级 　　　　　　　　　　　　 姓 名：****** 指导教师： 完成日期：20**年*月*日  目 录 中文摘要及关键词1 英文摘要及关键词2 引言3 1、Multisiml0简介3 2、影响电路可靠性的因数4 2.1 冲击、振动的影响4 2.2 温度的影响4 2.3 电源电压的影响4 2.4 环境的影响4 3、容差分析方法的原理5 3.1 蒙特卡罗分析方法5 3.2 最坏情况分析方法6 4、基于Multisim的容差分析6 4.1 利用Multisim 10进行仿真分析的流程图和低通滤波器7 4.2 设置参数8 4.3 Mulyisim10仿真运行8 4.4 结果分析和修改参数10 5、结语12 参考文献13 致谢14 个人简介15  摘 要 利用Multisim 10平台进行电子电路设计的可靠性研究,可以有效地解决传统分析方法难以对电子电路设计进行容差精确分析的技术问题。方法为统计取样法,其理论基础是概率论中的大数定理,基本原理是根据指定的分布规律在器件参数容差范围内随机地选取元器件及电路工作条件参数,再经大量计算,分析出电路性能的统计规律。通过实例,说明应用Multisim 10进行蒙特卡罗分析和最坏情况分析的方法和步骤,呈现出Multisim 10在电子电路设计的可靠性研究中出色应用效果和广阔的应用前景。 关键词: 容差分析；仿真分析；可靠性 Abstract Compared with the traditional method, using Multisim 10 platform to research the reliability of elec2tronic circuit design can effectively solve accurate tolerance analysis of the electronic circuit design. This method called statistical sampling is based on Bernoulli Theorem in Probability Theory. According to the specified distribu2 tionrule, it selects the Electron Component and work condition parameters within the tolerance randomly, then by virtue of calculation,analyzes the statis tical regularity of the circuit performance. Through examples, the methods and step s of the Monte Carlo analysis and the worst case analysis by Multisim 10 are illustrated, and the outstanding effect and broad prospect of Multisim 10 in the reliability consideration of electronic circuit design are presented. Key words: Tolerance analysis; Simulation analysis; Reliability 引 言 对于高精度的复杂电子系统,其稳定性问题在系统可靠性中占有很重要的地位。由于制造工艺和使用条件等原因,任何电子产品都不可避免地会受到随机扰动因素的影响。例如实际电路中的元器件参数和其标称值之间的随机误差、 使用时间的增加、环境条件的变化等,均会造成元器件容差的积累,以至使电路、设备的输出超出规定值而无法正常使用。为尽可能地消除这种现象,在电子电路的设计过程中应进行有效的电路容差分析,以便在设计阶段采取措施加以纠正。电子电路可靠性设计