LTE室分高干扰处理案例-器件类.docx

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LTE室分高干扰处理案例-器件类

现象描述,XXXXXX小区MR开启期间存在高干扰,后台提取系统上行每个PRB上检测到的干扰噪声的均值为-107。小区为共模基站,一共两个RRU,分别对两RRU进行实时监控发现,仅一个RRU存在强干扰,一个RRU正常。干扰图和监控图如下初步分析,鉴于仅一处存在干扰情况,且小区覆盖同一楼层,初步怀疑,出现高干扰RRU存在硬器件故障,去了现场后,对RRU的信号发射口,添加了负载,阻断了无源分布系统的信号发射,堵塞后发现干扰仍存在,至此怀疑RRU存在异常导致出现干扰,计划更换RRU再观察。为了确保上次验证的问题仍存在,施工人员到达现场后先对上次的问题进行了复现,这次加负载的地方换成了在合路器的接口,将合路器处的LTE馈线接口接上,后台观察干扰瞬间消失,由-104降至-119,如下图所示 此时疑惑有两点,为何上次加了负载干扰仍存在,这次换了位置就消失,是不是这段馈线存在问题?经过工程人员顺着馈线排查确认,该室分为TD升级站点,信号发射口存在两路馈线,一路为TD信号,一路为LTE信号,一般默认0口为TD信号,1口为LTE信号,(详情见下图)该RRU和其他RRU工程施工存在差异,1口为TD信号发射口,0口为LTE信号发射口,所以第一次加负载时加的是TD馈线的负载所以上次加上负载后干扰仍存在,此次添加负载后干扰消除。现在可以确定的是RRU不存在硬器件故障,进而将排查方向,放到无源分布系统上,进一步核查合路器,发现合路有接反现象,合路上频段选择,分别为A频段和E频段选择(详情见下图),由于RRU的馈线出信号口和常规不一致,导致此处存在接反现象,最终导致高干扰现象,对换合路器的馈线接口后小区干扰消除。 合路器 RRU馈线接口

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