“180?不唯一性”或“偶合不唯一性”现象 无论是对于尝试-核算法还是标准花样对照法,关于样品结构的已知条件越少,则标定工作越复杂,且花样标定的“不准一性”现象越严重。 因而在标定单晶电子衍射花样时,应依据样品的“背景”情况(如样品的化学成分、热处理工艺条件等),并依据衍射花样的对称性特征等尽可能获得关于样品所属晶系、点阵类型以至可能是哪种或哪几种物相等信息,以减少标定过程的复杂性与“不唯一性”现象。 “180?不唯一性”或“偶合不唯一性”现象的产生,根源在于一幅衍射花样仅仅提供了样品的“二维信息”。 通过样品倾斜(绕衍射斑点某点列转动),可获得另一晶带电子衍射花样。而两个衍射花样组合可提供样品三维信息。 通过对两个花样的指数标定及两晶带夹角计算值与实测(倾斜角)值的比较,即可有效消除上述之“不唯一性”。 六、复杂电子衍射花样 实际遇到的单晶电子衍射花样并非都如前述单纯,除上述规则排列的斑点外,由于晶体结构本身的复杂性或衍射条件的变化等,常常会出现一些“额外的斑点”或其它图案,构成所谓“复杂花样”。 复杂花样主要有: 高阶劳埃区电子衍射谱 、菊池花样(Kikuchi Pattern) 、二次衍射斑点等。 (1)高阶劳埃区电子衍射谱 图9-10 高阶劳埃区衍射谱示意图 (a)对称入射 (b)不对称入射 高阶劳埃区衍射谱的用途 高阶劳埃区衍射谱可以提供许多重要的晶体学信息,如
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